光子计数测量方法、装置、设备及介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202410119854.5
申请日
2024-01-26
公开(公告)号
CN117928748A
公开(公告)日
2024-04-26
发明(设计)人
唐嘉铭 颜林 刘烁韩 马四光
申请人
季华实验室
申请人地址
528200 广东省佛山市南海区桂城街道环岛南路28号
IPC主分类号
G01J11/00
IPC分类号
G01J1/42 G01J1/04
代理机构
佛山市君创知识产权代理事务所(普通合伙) 44675
代理人
潘明军
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
单光子探测器探测效率测量方法、装置、设备及介质 [P]. 
颜林 ;
唐嘉铭 ;
肖鹏 ;
马四光 .
中国专利 :CN118776831A ,2024-10-15
[2]
单光子探测器探测效率测量方法、装置、设备及介质 [P]. 
颜林 ;
唐嘉铭 ;
肖鹏 ;
马四光 .
中国专利 :CN118776831B ,2024-11-15
[3]
单光子探测器性能参数测量方法、装置、设备及介质 [P]. 
颜林 ;
唐嘉铭 ;
肖鹏 .
中国专利 :CN119688093A ,2025-03-25
[4]
单光子探测器性能参数测量方法、装置、设备及介质 [P]. 
颜林 ;
唐嘉铭 ;
肖鹏 .
中国专利 :CN119688093B ,2025-09-30
[5]
硅光子芯片光功率测量装置、设备及测量方法 [P]. 
田桂霞 ;
洪小刚 ;
陈奔 ;
沈笑寒 ;
郭倩 .
中国专利 :CN110955001A ,2020-04-03
[6]
单光子探测器性能参数测量方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
唐嘉铭 ;
颜林 ;
马四光 .
中国专利 :CN120869561A ,2025-10-31
[7]
光子计数装置及光子计数方法 [P]. 
王航 ;
陆书龙 ;
李雪飞 .
中国专利 :CN111678593A ,2020-09-18
[8]
硅光子芯片光功率测量装置、设备、系统及测量方法 [P]. 
田桂霞 ;
洪小刚 ;
陈奔 ;
王洁 ;
冯振阳 .
中国专利 :CN110955002A ,2020-04-03
[9]
单光子探测器用于分辨光子数的测量方法 [P]. 
何博 ;
于波 ;
张国峰 ;
肖连团 ;
贾锁堂 .
中国专利 :CN102607721A ,2012-07-25
[10]
飞行时间的测量方法、存储介质和装置 [P]. 
杨锦城 ;
任亚林 .
中国专利 :CN116338610B ,2025-11-04