单光子探测器性能参数测量方法、装置、设备及介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411833260.7

申请日：

2024-12-13

公开(公告)号：

CN119688093A

公开(公告)日：

2025-03-25

发明(设计)人：

颜林唐嘉铭肖鹏

申请人：

季华实验室

申请人地址：

528200 广东省佛山市南海区桂城街道环岛南路28号

IPC主分类号：

G01J11/00

IPC分类号：

G06F17/18

代理机构：

佛山市君创知识产权代理事务所(普通合伙) 44675

代理人：

潘明军

法律状态：

授权

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-09-30	授权	授权
2025-03-25	公开	公开
2025-04-11	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01J 11/00申请日:20241213

共 50 条

[1]

单光子探测器性能参数测量方法、装置、设备及介质 [P].

颜林 ;

唐嘉铭 ;

肖鹏 .

中国专利 :CN119688093B ,2025-09-30

[2]

单光子探测器性能参数测量方法、装置、设备及存储介质 [P].

唐嘉铭 ;

颜林 ;

马四光 .

中国专利 :CN120869561A ,2025-10-31

[3]

单光子探测器探测效率测量方法、装置、设备及介质 [P].

颜林 ;

唐嘉铭 ;

肖鹏 ;

马四光 .

中国专利 :CN118776831A ,2024-10-15

[4]

单光子探测器探测效率测量方法、装置、设备及介质 [P].

颜林 ;

唐嘉铭 ;

肖鹏 ;

马四光 .

中国专利 :CN118776831B ,2024-11-15

[5]

单光子探测器及单光子探测方法 [P].

戎有英 ;

马建辉 ;

常超 .

中国专利 :CN112504481A ,2021-03-16

[6]

单光子探测器性能检测系统及单光子探测器性能检测方法 [P].

谭昊 ;

王岩 ;

赵卓泽 ;

张涛 ;

葛皓波 .

中国专利 :CN120760858A ,2025-10-10

[7]

单光子探测器用于分辨光子数的测量方法 [P].

何博 ;

于波 ;

张国峰 ;

肖连团 ;

贾锁堂 .

中国专利 :CN102607721A ,2012-07-25

[8]

半导体紫外单光子探测器及控制方法 [P].

张军 ;

余超 ;

刘乃乐 ;

陈宇翱 ;

潘建伟 .

中国专利 :CN115096456A ,2022-09-23

[9]

光子计数测量方法、装置、设备及介质 [P].

唐嘉铭 ;

颜林 ;

刘烁韩 ;

马四光 .

中国专利 :CN117928748A ,2024-04-26

[10]

热电材料性能参数测量装置及测量方法 [P].

王汉夫 ;

杨方龙 ;

褚卫国 .

中国专利 :CN107037264B ,2017-08-11

← 1 2 3 4 5 →