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芯片共模干扰测试电路及方法

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202311514634.4
申请日：
2023-11-14
公开(公告)号：
CN117647718A
公开(公告)日：
2024-03-05
发明(设计)人：
秦马力 原义栋 赵天挺 王海 王宇辰 侯文涛 张艳玲 刘放 李志江
申请人：
北京智芯微电子科技有限公司
申请人地址：
100192 北京市海淀区西小口路66号中关村东升科技园A区3号楼
IPC主分类号：
G01R31/28
IPC分类号：
代理机构：
北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201
代理人：
孙璐璐
法律状态：
公开
国省代码：
北京市 市辖区
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2024-03-05 公开 公开
2024-03-22 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20231114
共 50 条
[1]
芯片内干扰测试方法和芯片内干扰测试系统 [P]. 
邓刘磊 ;
郭嘉帅 .
中国专利 :CN114264935A ,2022-04-01
[2]
芯片内干扰测试方法和芯片内干扰测试系统 [P]. 
邓刘磊 ;
郭嘉帅 .
中国专利 :CN114264935B ,2024-07-26
[3]
干扰测试电路及干扰检测装置 [P]. 
季爱 ;
吴忠洁 .
中国专利 :CN223413390U ,2025-10-03
[4]
开关电源产品共模干扰测试系统 [P]. 
李嘉琦 .
中国专利 :CN207557451U ,2018-06-29
[5]
适用于大容量SIM卡芯片的电源干扰测试装置 [P]. 
陈凝 ;
马文远 ;
李凯亮 .
中国专利 :CN211577334U ,2020-09-25
[6]
一种ADC芯片测试方法及抗干扰测试设备 [P]. 
刘正文 ;
邵训练 .
中国专利 :CN118740153A ,2024-10-01
[7]
一种ADC芯片测试方法及抗干扰测试设备 [P]. 
刘正文 ;
邵训练 .
中国专利 :CN118740153B ,2025-01-03
[8]
一种集成电路芯片电源干扰测试系统及其测试方法 [P]. 
刘静 ;
郭耀华 ;
陈凝 ;
欧阳睿 ;
邹欢 ;
李秀丽 .
中国专利 :CN114563680A ,2022-05-31
[9]
一种芯片测试电路、芯片及测试方法 [P]. 
李宏俊 ;
谭鑫 ;
聂玉庆 .
中国专利 :CN120468631B ,2025-10-21
[10]
一种芯片测试电路、芯片及测试方法 [P]. 
李宏俊 ;
谭鑫 ;
聂玉庆 .
中国专利 :CN120468631A ,2025-08-12
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