一种ADC芯片测试方法及抗干扰测试设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411223447.5

申请日：

2024-09-03

公开(公告)号：

CN118740153A

公开(公告)日：

2024-10-01

发明(设计)人：

刘正文邵训练

申请人：

合肥市华宇半导体有限公司

申请人地址：

230000 安徽省合肥市高新区天堂寨路66号

IPC主分类号：

H03M1/10

IPC分类号：

代理机构：

合肥方舟知识产权代理事务所(普通合伙) 34158

代理人：

赵东阳

法律状态：

授权

国省代码：

江苏省常州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-01-03	授权	授权
2024-10-01	公开	公开
2024-10-22	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):H03M 1/10申请日:20240903

共 50 条

[1]

一种ADC芯片测试方法及抗干扰测试设备 [P].

刘正文 ;

邵训练 .

中国专利 :CN118740153B ,2025-01-03

[2]

一种芯片噪声抗干扰测试系统 [P].

祝长伟 ;

陈宾 ;

周俊文 ;

宋宇彬 .

中国专利 :CN120831564A ,2025-10-24

[3]

一种芯片噪声抗干扰测试系统 [P].

祝长伟 ;

陈宾 ;

周俊文 ;

宋宇彬 .

中国专利 :CN120831564B ,2025-12-23

[4]

用于ADC芯片的测试设备及方法 [P].

王琨 ;

关媛 ;

胡毅 ;

李博夫 ;

李大猛 ;

韩顺枫 ;

张帆 ;

金鑫 .

中国专利 :CN114325301B ,2025-01-17

[5]

用于ADC芯片的测试设备及方法 [P].

王琨 ;

关媛 ;

胡毅 ;

李博夫 ;

李大猛 ;

韩顺枫 ;

张帆 ;

金鑫 .

中国专利 :CN114325301A ,2022-04-12

[6]

辐射抗干扰测试方法及测试系统 [P].

王耀华 ;

王子艺 .

中国专利 :CN115792441B ,2024-02-13

[7]

抗干扰测试系统 [P].

李雨飞 ;

曹亚亮 ;

雷亚童 ;

朱凌 ;

王娜 .

中国专利 :CN114374408B ,2024-04-09

[8]

抗干扰测试系统 [P].

李雨飞 ;

曹亚亮 ;

雷亚童 ;

朱凌 ;

王娜 .

中国专利 :CN114374408A ,2022-04-19

[9]

抗干扰测试方法、装置、主控设备及存储介质 [P].

杨勇 ;

万里 .

中国专利 :CN115622924A ,2023-01-17

[10]

抗干扰测试方法、装置、主控设备及存储介质 [P].

杨勇 ;

万里 .

中国专利 :CN115622924B ,2025-04-08

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