一种芯片噪声抗干扰测试系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202511341288.3

申请日：

2025-09-19

公开(公告)号：

CN120831564B

公开(公告)日：

2025-12-23

发明(设计)人：

祝长伟陈宾周俊文宋宇彬

申请人：

芯潮流（珠海）科技有限公司

申请人地址：

519000 广东省珠海市横琴新区环岛东路1889号17栋127-128室

IPC主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R1/28 G01R1/30

代理机构：

广州三环专利商标代理有限公司 44202

代理人：

江燕飞

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-12-23	授权	授权
2025-10-24	公开	公开
2025-11-11	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20250919

共 50 条

[1]

一种芯片噪声抗干扰测试系统 [P].

祝长伟 ;

陈宾 ;

周俊文 ;

宋宇彬 .

中国专利 :CN120831564A ,2025-10-24

[2]

抗干扰测试系统 [P].

李雨飞 ;

曹亚亮 ;

雷亚童 ;

朱凌 ;

王娜 .

中国专利 :CN114374408B ,2024-04-09

[3]

抗干扰测试系统 [P].

李雨飞 ;

曹亚亮 ;

雷亚童 ;

朱凌 ;

王娜 .

中国专利 :CN114374408A ,2022-04-19

[4]

一种同频抗干扰测试系统 [P].

赵薛 ;

何夏良 ;

牛建群 .

中国专利 :CN207396627U ,2018-05-22

[5]

一种ADC芯片测试方法及抗干扰测试设备 [P].

刘正文 ;

邵训练 .

中国专利 :CN118740153A ,2024-10-01

[6]

一种ADC芯片测试方法及抗干扰测试设备 [P].

刘正文 ;

邵训练 .

中国专利 :CN118740153B ,2025-01-03

[7]

一种抗干扰测试系统 [P].

李予根 ;

王宪文 ;

臧成发 .

中国专利 :CN223139725U ,2025-07-22

[8]

一种抗干扰测试系统 [P].

袁迪 ;

王林东 ;

石磊 .

中国专利 :CN114089079A ,2022-02-25

[9]

一种抗干扰测试系统 [P].

袁迪 ;

王林东 ;

石磊 .

中国专利 :CN216595345U ,2022-05-24

[10]

一种抗干扰测试系统 [P].

袁迪 ;

王林东 ;

石磊 .

中国专利 :CN114089079B ,2025-02-11

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