自动化测试方法、装置、电子设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410160752.8

申请日：

2024-02-05

公开(公告)号：

CN117827681A

公开(公告)日：

2024-04-05

发明(设计)人：

张巍巍何天翼

申请人：

北斗智联科技有限公司

申请人地址：

401120 重庆市渝北区玉峰山镇桐桂大道81号2幢

IPC主分类号：

G06F11/36

IPC分类号：

代理机构：

北京超凡宏宇知识产权代理有限公司 11463

代理人：

冯倩

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-04-23	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/36申请日:20240205
2024-04-05	公开	公开

共 50 条

[1]

自动化测试方法及装置、存储介质、电子设备 [P].

王成 .

中国专利 :CN107704398A ,2018-02-16

[2]

自动化测试方法及装置、存储介质、电子设备 [P].

王钞仕 .

中国专利 :CN107678970A ,2018-02-09

[3]

自动化测试方法及装置、存储介质、电子设备 [P].

曹偲 ;

张文 ;

胡涛 ;

施红 ;

刘金龙 .

中国专利 :CN112463605B ,2024-03-15

[4]

自动化测试方法及装置、存储介质、电子设备 [P].

曹偲 ;

张文 ;

胡涛 ;

施红 ;

刘金龙 .

中国专利 :CN112463605A ,2021-03-09

[5]

自动化测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

黄大忠 .

中国专利 :CN114398286B ,2024-12-10

[6]

自动化测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

王博 .

中国专利 :CN117762762A ,2024-03-26

[7]

自动化测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

马晨 .

中国专利 :CN112882939B ,2021-06-01

[8]

自动化测试方法及装置、存储介质、电子设备 [P].

王庆 .

中国专利 :CN107844426A ,2018-03-27

[9]

自动化测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

毕京晓 ;

杜金凤 ;

孙莉莉 ;

李杨 ;

敦洋洋 .

中国专利 :CN119718921A ,2025-03-28

[10]

自动化测试方法及装置、存储介质、电子设备 [P].

周雪梅 .

中国专利 :CN109901983B ,2019-06-18

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