自动化测试方法、装置、电子设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411787536.2

申请日：

2024-12-05

公开(公告)号：

CN119718921A

公开(公告)日：

2025-03-28

发明(设计)人：

毕京晓杜金凤孙莉莉李杨敦洋洋

申请人：

广东高云半导体科技股份有限公司

申请人地址：

510700 广东省广州市黄埔区科学大道235号601房

IPC主分类号：

G06F11/3668

IPC分类号：

G06N20/00

代理机构：

北京超凡宏宇知识产权代理有限公司 11463

代理人：

曹瑞敏

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

广东省广州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-04-15	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/3668申请日:20241205
2025-03-28	公开	公开

共 50 条

[1]

自动化测试方法及装置、存储介质、电子设备 [P].

王成 .

中国专利 :CN107704398A ,2018-02-16

[2]

自动化测试方法及装置、存储介质、电子设备 [P].

王钞仕 .

中国专利 :CN107678970A ,2018-02-09

[3]

自动化测试方法及装置、存储介质、电子设备 [P].

曹偲 ;

张文 ;

胡涛 ;

施红 ;

刘金龙 .

中国专利 :CN112463605B ,2024-03-15

[4]

自动化测试方法及装置、存储介质、电子设备 [P].

王庆 .

中国专利 :CN107844426A ,2018-03-27

[5]

自动化测试方法及装置、存储介质、电子设备 [P].

曹偲 ;

张文 ;

胡涛 ;

施红 ;

刘金龙 .

中国专利 :CN112463605A ,2021-03-09

[6]

自动化测试方法及装置、存储介质、电子设备 [P].

周雪梅 .

中国专利 :CN109901983B ,2019-06-18

[7]

自动化测试方法、系统、电子设备及可读存储介质 [P].

周成 ;

林富 ;

徐舰波 ;

付成 ;

李思成 .

中国专利 :CN120234250A ,2025-07-01

[8]

微服务架构自动化测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

胡凯城 ;

韦智慧 .

中国专利 :CN120631746A ,2025-09-12

[9]

自动化测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

王博 .

中国专利 :CN117762762A ,2024-03-26

[10]

自动化测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

张巍巍 ;

何天翼 .

中国专利 :CN117827681A ,2024-04-05

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