多场景测试方法、电子设备及存储介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202311352919.2
申请日
2023-10-17
公开(公告)号
CN117370185A
公开(公告)日
2024-01-09
发明(设计)人
任涛
申请人
吉旗(成都)科技有限公司
申请人地址
610000 四川省成都市天府新区兴隆街道湖畔路西段99号天府新经济产业园D区B6栋28层
IPC主分类号
G06F11/36
IPC分类号
代理机构
北京超凡宏宇知识产权代理有限公司 11463
代理人
丁银泽
法律状态
公开
国省代码
内蒙古自治区 鄂尔多斯市
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共 50 条
[1]
多业务场景的测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
陈聪 ;
黄景丽 ;
吴宝丰 .
中国专利 :CN118312418A ,2024-07-09
[2]
应用测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
赖勇辉 ;
方李志 ;
李鹏 ;
徐立玉 .
中国专利 :CN118672877A ,2024-09-20
[3]
测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
王丹 ;
柳宁一 .
中国专利 :CN111782533A ,2020-10-16
[4]
测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
王丹 ;
柳宁一 ;
张友平 ;
杨博 .
中国专利 :CN112685296A ,2021-04-20
[5]
测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
何木来 ;
刘素华 ;
彭广毫 .
中国专利 :CN118093444A ,2024-05-28
[6]
测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
朱捷 .
中国专利 :CN112433935A ,2021-03-02
[7]
测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
何木来 ;
刘素华 ;
彭广毫 .
中国专利 :CN118093444B ,2024-08-02
[8]
接口测试方法、接口测试装置、电子设备及存储介质 [P]. 
程学峰 ;
龚春燕 ;
徐志成 .
中国专利 :CN109446071A ,2019-03-08
[9]
一种系统测试方法、装置、存储介质及电子设备 [P]. 
祁晓光 ;
李标 .
中国专利 :CN111881014B ,2020-11-03
[10]
兼容性测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
张敏 .
中国专利 :CN109491886A ,2019-03-19