一种光耦老化测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202322493354.1

申请日：

2023-09-14

公开(公告)号：

CN220894433U

公开(公告)日：

2024-05-03

发明(设计)人：

陈鑫阳李凯陶韵盛刚尤培明

申请人：

江苏欧密格光电科技股份有限公司

申请人地址：

213164 江苏省常州市武进区武南中路98号

IPC主分类号：

G01R31/00

IPC分类号：

代理机构：

北京中济纬天专利代理有限公司 11429

代理人：

丁燕华

法律状态：

授权

国省代码：

江苏省常州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-05-03	授权	授权

共 50 条

[1]

光耦测试装置 [P].

卢铭 ;

韦并东 ;

卢桥 .

中国专利 :CN207832917U ,2018-09-07

[2]

一种光模块老化测试装置 [P].

兰政 ;

张重酉 ;

梅岚钦 .

中国专利 :CN217007508U ,2022-07-19

[3]

老化测试装置 [P].

申健 ;

姚志宏 ;

朱洪伟 .

中国专利 :CN201289508Y ,2009-08-12

[4]

一种光耦测试装置 [P].

刘玉吉 .

中国专利 :CN214895523U ,2021-11-26

[5]

一种电阻老化测试装置 [P].

涂振坤 .

中国专利 :CN212060453U ,2020-12-01

[6]

一种光模块的老化测试装置 [P].

郑波 ;

熊志刚 ;

王硕琦 ;

黄伟毅 .

中国专利 :CN206193213U ,2017-05-24

[7]

一种光模块的老化测试装置 [P].

马学友 ;

杨勰娟 .

中国专利 :CN210572541U ,2020-05-19

[8]

光伏器件老化测试装置 [P].

吴梓敬 ;

陈力 ;

王晓洁 ;

朱丽琼 ;

石微迪 ;

邵君 ;

于振瑞 .

中国专利 :CN221575310U ,2024-08-20

[9]

光耦CTR测试装置 [P].

王金刚 .

中国专利 :CN207148277U ,2018-03-27

[10]

一种老化测试装置 [P].

陈全 ;

邵懿 ;

文俊 ;

周廷兴 .

中国专利 :CN204330978U ,2015-05-13

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