光学检测装置

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201910908467.9
申请日
2019-09-24
公开(公告)号
CN112051930B
公开(公告)日
2024-01-12
发明(设计)人
李世民
申请人
原相科技股份有限公司
申请人地址
中国台湾新竹科学工业园区
IPC主分类号
G06F3/0354
IPC分类号
G06F3/038
代理机构
深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287
代理人
胡海国
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
光学检测装置 [P]. 
李世民 .
中国专利 :CN112051930A ,2020-12-08
[2]
光学检测方法和光学检测装置 [P]. 
大卫·K·梅福德 ;
罗伯特·A·史密斯 ;
约翰·R·洛厄尔 .
美国专利 :CN111323386B ,2024-04-19
[3]
光学检测方法和光学检测装置 [P]. 
大卫·K·梅福德 ;
罗伯特·A·史密斯 ;
约翰·R·洛厄尔 .
中国专利 :CN111323386A ,2020-06-23
[4]
光学检测装置 [P]. 
张华林 .
中国专利 :CN215449602U ,2022-01-07
[5]
光学检测装置及其检测方法 [P]. 
牛宝华 ;
苏纮仪 ;
庄荣祥 .
中国专利 :CN108072613B ,2018-05-25
[6]
一种光学检测装置及系统 [P]. 
曾广玺 ;
周琨 .
中国专利 :CN205981242U ,2017-02-22
[7]
一种光学检测装置、系统及方法 [P]. 
曾广玺 ;
周琨 .
中国专利 :CN105928456A ,2016-09-07
[8]
光学检测镜头及光学检测装置 [P]. 
廖云龙 .
中国专利 :CN117761867A ,2024-03-26
[9]
光学检测方法和光学检测装置 [P]. 
H·范德布洛克 .
中国专利 :CN113702949A ,2021-11-26
[10]
光学检测装置 [P]. 
达恩·泽梅尔 .
中国专利 :CN2434669Y ,2001-06-13