一种光学检测装置、系统及方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201610238906.6

申请日：

2016-04-18

公开(公告)号：

CN105928456A

公开(公告)日：

2016-09-07

发明(设计)人：

曾广玺周琨

申请人：

申请人地址：

518000 广东省深圳市南山区朗山路16号华瀚科技园C座6楼606B

IPC主分类号：

G01B1100

IPC分类号：

代理机构：

北京天奇智新知识产权代理有限公司 11340

代理人：

王广涛

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2016-09-07	公开	公开
2020-07-10	发明专利申请公布后的驳回	发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01B 11/00 申请公布日:20160907
2016-11-09	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101687086838 IPC(主分类):G01B 11/00 专利申请号:2016102389066 申请日:20160418

共 50 条

[1]

一种光学检测装置及系统 [P].

曾广玺 ;

周琨 .

中国专利 :CN205981242U ,2017-02-22

[2]

一种光学检测装置及检测方法 [P].

沈海滢 ;

杨佳怡 ;

董莲华 ;

高运华 .

中国专利 :CN119023216A ,2024-11-26

[3]

一种光学检测装置及光学检测的复检方法 [P].

陈鲁 ;

王天民 ;

张嵩 .

中国专利 :CN115096910A ,2022-09-23

[4]

一种光学检测装置及方法 [P].

陈鲁 ;

王天民 ;

张嵩 .

中国专利 :CN113533344A ,2021-10-22

[5]

光学检测方法、光学检测装置及光学检测系统 [P].

安比卡帕亚鲁木鲁甘 ;

徐敏堂 ;

陆家樑 ;

方志恒 .

中国专利 :CN110658198A ,2020-01-07

[6]

光学检测装置 [P].

李世民 .

中国专利 :CN112051930A ,2020-12-08

[7]

光学检测装置 [P].

李世民 .

中国专利 :CN112051930B ,2024-01-12

[8]

光学检测方法和光学检测装置 [P].

大卫·K·梅福德 ;

罗伯特·A·史密斯 ;

约翰·R·洛厄尔 .

美国专利 :CN111323386B ,2024-04-19

[9]

光学检测方法和光学检测装置 [P].

大卫·K·梅福德 ;

罗伯特·A·史密斯 ;

约翰·R·洛厄尔 .

中国专利 :CN111323386A ,2020-06-23

[10]

一种光学检测装置、系统及方法 [P].

金通 .

中国专利 :CN107609447A ,2018-01-19

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