芯片检测方法及系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202311752911.5

申请日：

2023-12-20

公开(公告)号：

CN117434068B

公开(公告)日：

2024-02-23

发明(设计)人：

林嘉关景新邱小群马维旻杨诗殷赵豪

申请人：

珠海城市职业技术学院

申请人地址：

519090 广东省珠海市金湾区德城路680号

IPC主分类号：

G01N21/88

IPC分类号：

B07C5/342

代理机构：

北京惟专知识产权代理事务所(普通合伙) 16074

代理人：

赵星

法律状态：

授权

国省代码：

山西省晋中市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-02-23	授权	授权
2024-02-09	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01N 21/88申请日:20231220
2024-01-23	公开	公开

共 50 条

[1]

芯片检测方法及系统 [P].

林嘉 ;

关景新 ;

邱小群 ;

马维旻 ;

杨诗殷 ;

赵豪 .

中国专利 :CN117434068A ,2024-01-23

[2]

芯片缺陷检测方法及系统 [P].

柏钧蓝 .

中国专利 :CN110672620B ,2020-01-10

[3]

芯片检测方法、芯片检测装置 [P].

吕智谋 ;

刘宁 ;

黄孟孟 .

中国专利 :CN118245311A ,2024-06-25

[4]

芯片检测方法、芯片检测装置 [P].

吕智谋 ;

刘宁 ;

黄孟孟 .

中国专利 :CN118245311B ,2024-08-20

[5]

芯片检测方法、芯片检测装置 [P].

吕智谋 ;

刘宁 ;

黄孟孟 .

中国专利 :CN117632606A ,2024-03-01

[6]

基于机器视觉的芯片检测方法及系统 [P].

雷彬 ;

肖斌 ;

罗治 ;

李久根 ;

吴凯 .

中国专利 :CN115015286A ,2022-09-06

[7]

一种基于图像识别的芯片缺陷检测方法及系统 [P].

夏俊杰 ;

林华胜 ;

顾红伟 .

中国专利 :CN118172360A ,2024-06-11

[8]

一种基于图像识别的芯片缺陷检测方法及系统 [P].

夏俊杰 ;

林华胜 ;

顾红伟 .

中国专利 :CN118172360B ,2024-07-12

[9]

芯片检测系统及检测方法 [P].

潘咏民 .

中国专利 :CN108686967A ,2018-10-23

[10]

芯片检测系统及检测方法 [P].

郭健强 .

中国专利 :CN103823149A ,2014-05-28

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