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纳米尺度的半导体器件的气隙间隔物构造
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202311296358.9
申请日
:
2017-07-21
公开(公告)号
:
CN117423678A
公开(公告)日
:
2024-01-19
发明(设计)人
:
S·V·恩古源
山下典洪
程慷果
T·J·小黑格
朴灿鲁
E·利宁格
李俊涛
S·梅赫塔
申请人
:
泰塞拉公司
申请人地址
:
美国加利福尼亚州
IPC主分类号
:
H01L23/532
IPC分类号
:
H01L21/768
H01L29/417
H01L21/02
H01L29/78
H01L21/336
H01L23/528
H01L29/49
H01L27/12
H01L21/84
H01L23/522
代理机构
:
北京市金杜律师事务所 11256
代理人
:
宋晓娟
法律状态
:
公开
国省代码
:
引用
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-01-19
公开
公开
2024-02-06
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):H01L 23/532申请日:20170721
共 50 条
[1]
纳米尺度的半导体器件的气隙间隔物构造
[P].
S·V·恩古源
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机构:
泰塞拉公司
泰塞拉公司
S·V·恩古源
;
山下典洪
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机构:
泰塞拉公司
泰塞拉公司
山下典洪
;
程慷果
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机构:
泰塞拉公司
泰塞拉公司
程慷果
;
T·J·小黑格
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机构:
泰塞拉公司
泰塞拉公司
T·J·小黑格
;
朴灿鲁
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机构:
泰塞拉公司
泰塞拉公司
朴灿鲁
;
E·利宁格
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机构:
泰塞拉公司
泰塞拉公司
E·利宁格
;
李俊涛
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机构:
泰塞拉公司
泰塞拉公司
李俊涛
;
S·梅赫塔
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机构:
泰塞拉公司
泰塞拉公司
S·梅赫塔
.
美国专利
:CN117457623A
,2024-01-26
[2]
纳米尺度的半导体器件的气隙间隔物构造
[P].
S·V·恩古源
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泰塞拉公司
泰塞拉公司
S·V·恩古源
;
山下典洪
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机构:
泰塞拉公司
泰塞拉公司
山下典洪
;
程慷果
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泰塞拉公司
泰塞拉公司
程慷果
;
T·J·小黑格
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泰塞拉公司
泰塞拉公司
T·J·小黑格
;
朴灿鲁
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泰塞拉公司
泰塞拉公司
朴灿鲁
;
E·利宁格
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泰塞拉公司
泰塞拉公司
E·利宁格
;
李俊涛
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泰塞拉公司
泰塞拉公司
李俊涛
;
S·梅赫塔
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泰塞拉公司
泰塞拉公司
S·梅赫塔
.
美国专利
:CN117410270A
,2024-01-16
[3]
纳米尺度的半导体器件的气隙间隔物构造
[P].
S·V·恩古源
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泰塞拉公司
泰塞拉公司
S·V·恩古源
;
山下典洪
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泰塞拉公司
泰塞拉公司
山下典洪
;
程慷果
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泰塞拉公司
泰塞拉公司
程慷果
;
T·J·小黑格
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泰塞拉公司
泰塞拉公司
T·J·小黑格
;
朴灿鲁
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泰塞拉公司
泰塞拉公司
朴灿鲁
;
E·利宁格
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泰塞拉公司
泰塞拉公司
E·利宁格
;
李俊涛
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泰塞拉公司
泰塞拉公司
李俊涛
;
S·梅赫塔
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机构:
泰塞拉公司
泰塞拉公司
S·梅赫塔
.
美国专利
:CN117558708A
,2024-02-13
[4]
纳米尺度的半导体器件的气隙间隔物构造
[P].
S·V·恩古源
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S·V·恩古源
;
山下典洪
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山下典洪
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程慷果
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程慷果
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T·J·小黑格
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T·J·小黑格
;
朴灿鲁
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朴灿鲁
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E·利宁格
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E·利宁格
;
李俊涛
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李俊涛
;
S·梅赫塔
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S·梅赫塔
.
中国专利
:CN109478534A
,2019-03-15
[5]
具有气隙间隔物的半导体器件及制造其的方法
[P].
李东烈
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李东烈
;
慎重赞
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慎重赞
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李东俊
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李东俊
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李镐旭
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李镐旭
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崔智旻
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崔智旻
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金志永
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金志永
;
尹灿植
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尹灿植
;
赵昶贤
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赵昶贤
.
中国专利
:CN108155189B
,2018-06-12
[6]
半导体气隙间隔物及其制造方法
[P].
韦拉拉哈万·S·巴斯克
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应用材料公司
应用材料公司
韦拉拉哈万·S·巴斯克
;
杨世海
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应用材料公司
应用材料公司
杨世海
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阿希什·派欧
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应用材料公司
应用材料公司
阿希什·派欧
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埃尔·迈赫迪·巴齐兹
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应用材料公司
应用材料公司
埃尔·迈赫迪·巴齐兹
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本杰明·科伦坡
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应用材料公司
应用材料公司
本杰明·科伦坡
;
B·普拉纳瑟提哈兰
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应用材料公司
应用材料公司
B·普拉纳瑟提哈兰
.
美国专利
:CN121153350A
,2025-12-16
[7]
包括空气间隔物的半导体器件
[P].
金璟恩
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金璟恩
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金容宽
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金容宽
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张世明
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张世明
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黄有商
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黄有商
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金奉秀
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金奉秀
.
中国专利
:CN106816430B
,2017-06-09
[8]
包括栅间隔物的半导体器件
[P].
徐凤锡
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徐凤锡
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金大元
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金大元
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朴范琎
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朴范琎
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朴硕炯
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朴硕炯
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朴星一
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朴星一
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申在训
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申在训
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杨奉燮
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杨奉燮
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刘庭均
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刘庭均
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李在润
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李在润
.
中国专利
:CN113497035A
,2021-10-12
[9]
包括间隔物的半导体器件和制造该半导体器件的方法
[P].
金孝燮
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金孝燮
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金熙中
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金熙中
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李明东
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李明东
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全辰桓
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全辰桓
.
中国专利
:CN111326517A
,2020-06-23
[10]
包括间隔物的半导体器件和制造该半导体器件的方法
[P].
金孝燮
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机构:
三星电子株式会社
三星电子株式会社
金孝燮
;
金熙中
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机构:
三星电子株式会社
三星电子株式会社
金熙中
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李明东
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机构:
三星电子株式会社
三星电子株式会社
李明东
;
全辰桓
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机构:
三星电子株式会社
三星电子株式会社
全辰桓
.
韩国专利
:CN111326517B
,2024-05-24
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