纳米尺度的半导体器件的气隙间隔物构造

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202311296358.9
申请日
2017-07-21
公开(公告)号
CN117423678A
公开(公告)日
2024-01-19
发明(设计)人
S·V·恩古源 山下典洪 程慷果 T·J·小黑格 朴灿鲁 E·利宁格 李俊涛 S·梅赫塔
申请人
泰塞拉公司
申请人地址
美国加利福尼亚州
IPC主分类号
H01L23/532
IPC分类号
H01L21/768 H01L29/417 H01L21/02 H01L29/78 H01L21/336 H01L23/528 H01L29/49 H01L27/12 H01L21/84 H01L23/522
代理机构
北京市金杜律师事务所 11256
代理人
宋晓娟
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
纳米尺度的半导体器件的气隙间隔物构造 [P]. 
S·V·恩古源 ;
山下典洪 ;
程慷果 ;
T·J·小黑格 ;
朴灿鲁 ;
E·利宁格 ;
李俊涛 ;
S·梅赫塔 .
美国专利 :CN117457623A ,2024-01-26
[2]
纳米尺度的半导体器件的气隙间隔物构造 [P]. 
S·V·恩古源 ;
山下典洪 ;
程慷果 ;
T·J·小黑格 ;
朴灿鲁 ;
E·利宁格 ;
李俊涛 ;
S·梅赫塔 .
美国专利 :CN117410270A ,2024-01-16
[3]
纳米尺度的半导体器件的气隙间隔物构造 [P]. 
S·V·恩古源 ;
山下典洪 ;
程慷果 ;
T·J·小黑格 ;
朴灿鲁 ;
E·利宁格 ;
李俊涛 ;
S·梅赫塔 .
美国专利 :CN117558708A ,2024-02-13
[4]
纳米尺度的半导体器件的气隙间隔物构造 [P]. 
S·V·恩古源 ;
山下典洪 ;
程慷果 ;
T·J·小黑格 ;
朴灿鲁 ;
E·利宁格 ;
李俊涛 ;
S·梅赫塔 .
中国专利 :CN109478534A ,2019-03-15
[5]
具有气隙间隔物的半导体器件及制造其的方法 [P]. 
李东烈 ;
慎重赞 ;
李东俊 ;
李镐旭 ;
崔智旻 ;
金志永 ;
尹灿植 ;
赵昶贤 .
中国专利 :CN108155189B ,2018-06-12
[6]
半导体气隙间隔物及其制造方法 [P]. 
韦拉拉哈万·S·巴斯克 ;
杨世海 ;
阿希什·派欧 ;
埃尔·迈赫迪·巴齐兹 ;
本杰明·科伦坡 ;
B·普拉纳瑟提哈兰 .
美国专利 :CN121153350A ,2025-12-16
[7]
包括空气间隔物的半导体器件 [P]. 
金璟恩 ;
金容宽 ;
张世明 ;
黄有商 ;
金奉秀 .
中国专利 :CN106816430B ,2017-06-09
[8]
包括栅间隔物的半导体器件 [P]. 
徐凤锡 ;
金大元 ;
朴范琎 ;
朴硕炯 ;
朴星一 ;
申在训 ;
杨奉燮 ;
刘庭均 ;
李在润 .
中国专利 :CN113497035A ,2021-10-12
[9]
包括间隔物的半导体器件和制造该半导体器件的方法 [P]. 
金孝燮 ;
金熙中 ;
李明东 ;
全辰桓 .
中国专利 :CN111326517A ,2020-06-23
[10]
包括间隔物的半导体器件和制造该半导体器件的方法 [P]. 
金孝燮 ;
金熙中 ;
李明东 ;
全辰桓 .
韩国专利 :CN111326517B ,2024-05-24