测试方法、装置、电子设备、存储介质及程序产品

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202211515021.8

申请日：

2022-11-28

公开(公告)号：

CN118093356A

公开(公告)日：

2024-05-28

发明(设计)人：

赖颖张新红范杰梁昊陈乾发陈柳杉马国俊

申请人：

北京字跳网络技术有限公司

申请人地址：

100190 北京市海淀区紫金数码园4号楼2层0207

IPC主分类号：

G06F11/36

IPC分类号：

G06F8/38

代理机构：

北京风雅颂专利代理有限公司 11403

代理人：

李莎

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

北京市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-06-14	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/36申请日:20221128
2024-05-28	公开	公开

共 50 条

[1]

程序测试方法、系统、电子设备、存储介质及程序产品 [P].

李辉 ;

赵亚娟 ;

周雅慧 ;

郑东铭 ;

梁志伟 .

中国专利 :CN120892356B ,2025-12-16

[2]

程序测试方法、系统、电子设备、存储介质及程序产品 [P].

李辉 ;

赵亚娟 ;

周雅慧 ;

郑东铭 ;

梁志伟 .

中国专利 :CN120892356A ,2025-11-04

[3]

元素测试方法、装置、电子设备、存储介质及程序产品 [P].

陈琼雯 .

中国专利 :CN119322736A ,2025-01-17

[4]

测试方法、装置、电子设备、存储介质及程序产品 [P].

窦金双 ;

魏乾 .

中国专利 :CN120086146A ,2025-06-03

[5]

测试方法、装置、电子设备、存储介质及程序产品 [P].

李嘉 ;

郭向阳 .

中国专利 :CN120780601A ,2025-10-14

[6]

测试方法、装置、电子设备、存储介质及程序产品 [P].

唐梨 ;

王凯龙 .

中国专利 :CN118193380A ,2024-06-14

[7]

测试方法、电子设备、存储介质及程序产品 [P].

刘薇 ;

李开科 ;

高雷 ;

方群 ;

石娜 ;

吴楠 .

中国专利 :CN121056350A ,2025-12-02

[8]

小程序测试方法、装置、电子设备、存储介质及程序产品 [P].

张萍 ;

李积宏 ;

陈惠梅 ;

刘璇 .

中国专利 :CN113392008A ,2021-09-14

[9]

小程序测试方法、装置、电子设备、存储介质及程序产品 [P].

张萍 ;

李积宏 ;

陈惠梅 ;

刘璇 .

中国专利 :CN113392008B ,2024-08-06

[10]

故障检测方法、存储介质、电子设备及程序产品 [P].

熊战磊 .

中国专利 :CN120407411A ,2025-08-01

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