测试方法、装置、电子设备、存储介质及程序产品

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510265176.8

申请日：

2025-03-06

公开(公告)号：

CN120086146A

公开(公告)日：

2025-06-03

发明(设计)人：

窦金双魏乾

申请人：

中电科金仓（北京）科技股份有限公司

申请人地址：

100102 北京市朝阳区容达路7号院5号楼1至3层101内二层201

IPC主分类号：

G06F11/3668

IPC分类号：

G06F11/3698

代理机构：

北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205

代理人：

宋蓉;刘芳

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-06-03	公开	公开
2025-06-20	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/3668申请日:20250306

共 50 条

[1]

测试方法、装置、电子设备、存储介质及程序产品 [P].

赖颖 ;

张新红 ;

范杰 ;

梁昊 ;

陈乾发 ;

陈柳杉 ;

马国俊 .

中国专利 :CN118093356A ,2024-05-28

[2]

测试方法、装置、电子设备、存储介质及程序产品 [P].

李嘉 ;

郭向阳 .

中国专利 :CN120780601A ,2025-10-14

[3]

测试方法、装置、电子设备、存储介质及程序产品 [P].

唐梨 ;

王凯龙 .

中国专利 :CN118193380A ,2024-06-14

[4]

测试方法、电子设备、存储介质及程序产品 [P].

刘薇 ;

李开科 ;

高雷 ;

方群 ;

石娜 ;

吴楠 .

中国专利 :CN121056350A ,2025-12-02

[5]

性能测试装置、方法、电子设备、存储介质及程序产品 [P].

廖兆琨 ;

姜雯婕 ;

雷文烈 ;

庞舒琪 ;

刘丽媛 ;

何旭东 .

中国专利 :CN120492348A ,2025-08-15

[6]

小程序测试方法、装置、电子设备、存储介质及程序产品 [P].

张萍 ;

李积宏 ;

陈惠梅 ;

刘璇 .

中国专利 :CN113392008A ,2021-09-14

[7]

小程序测试方法、装置、电子设备、存储介质及程序产品 [P].

张萍 ;

李积宏 ;

陈惠梅 ;

刘璇 .

中国专利 :CN113392008B ,2024-08-06

[8]

程序测试方法、系统、电子设备、存储介质及程序产品 [P].

李辉 ;

赵亚娟 ;

周雅慧 ;

郑东铭 ;

梁志伟 .

中国专利 :CN120892356B ,2025-12-16

[9]

程序测试方法、系统、电子设备、存储介质及程序产品 [P].

郑东铭 ;

汪佳佳 ;

李辉 ;

周雅慧 .

中国专利 :CN120929384A ,2025-11-11

[10]

程序测试方法、系统、电子设备、存储介质及程序产品 [P].

李辉 ;

赵亚娟 ;

周雅慧 ;

郑东铭 ;

梁志伟 .

中国专利 :CN120892356A ,2025-11-04

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