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一种频谱仪测量变频噪声系数的系统及方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202410445284.9
申请日
:
2024-04-15
公开(公告)号
:
CN118033251A
公开(公告)日
:
2024-05-14
发明(设计)人
:
龙双
杨晗
林涛
申请人
:
深圳市鼎阳科技股份有限公司
申请人地址
:
518000 广东省深圳市宝安区新安街道兴东社区68区安通达工业厂区4栋厂房3层、5栋办公楼1-3层
IPC主分类号
:
G01R29/26
IPC分类号
:
G01R35/00
代理机构
:
深圳鼎合诚知识产权代理有限公司 44281
代理人
:
郭燕;彭家恩
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
广东省 深圳市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-05-31
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):G01R 29/26申请日:20240415
2024-05-14
公开
公开
2024-07-16
授权
授权
共 50 条
[1]
一种频谱仪测量变频噪声系数的系统及方法
[P].
龙双
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机构:
深圳市鼎阳科技股份有限公司
深圳市鼎阳科技股份有限公司
龙双
;
杨晗
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机构:
深圳市鼎阳科技股份有限公司
深圳市鼎阳科技股份有限公司
杨晗
;
林涛
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机构:
深圳市鼎阳科技股份有限公司
深圳市鼎阳科技股份有限公司
林涛
.
中国专利
:CN118033251B
,2024-07-16
[2]
一种基于多通道频谱仪的噪声系数测量方法
[P].
郑永丰
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郑永丰
;
张贵恒
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张贵恒
;
董阳
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董阳
;
苗学问
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苗学问
;
刁静
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刁静
.
中国专利
:CN112684264A
,2021-04-20
[3]
一种基于频谱仪的噪声系数快速测试方法及测试系统
[P].
甘欣辉
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甘欣辉
;
宋亮
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宋亮
;
姚连喜
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姚连喜
;
万韬
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万韬
;
郑前
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郑前
;
周栋
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周栋
;
彭景法
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彭景法
;
付元炳
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付元炳
.
中国专利
:CN113655301A
,2021-11-16
[4]
一种频谱分析仪噪声系数测试方法
[P].
杨东营
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杨东营
;
许建华
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许建华
;
杜会文
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杜会文
;
宋青娥
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宋青娥
;
赵永志
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赵永志
.
中国专利
:CN115656651A
,2023-01-31
[5]
一种频谱仪及频谱测量方法
[P].
陈建生
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陈建生
.
中国专利
:CN104714088B
,2015-06-17
[6]
一种变频器件噪声系数测试方法及系统
[P].
郑利颖
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机构:
中电科思仪科技股份有限公司
中电科思仪科技股份有限公司
郑利颖
;
宋青娥
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机构:
中电科思仪科技股份有限公司
中电科思仪科技股份有限公司
宋青娥
;
魏连成
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机构:
中电科思仪科技股份有限公司
中电科思仪科技股份有限公司
魏连成
;
李文军
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中电科思仪科技股份有限公司
中电科思仪科技股份有限公司
李文军
;
薛龙
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机构:
中电科思仪科技股份有限公司
中电科思仪科技股份有限公司
薛龙
.
中国专利
:CN116203331B
,2025-10-31
[7]
一种频谱仪的余辉生成方法及频谱仪
[P].
邱小勇
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邱小勇
;
王悦
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王悦
;
王铁军
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王铁军
;
李维森
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李维森
.
中国专利
:CN109725198A
,2019-05-07
[8]
一种噪声系数扫描测量方法
[P].
宋青娥
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宋青娥
;
许建华
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许建华
;
梁胜利
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梁胜利
;
李文军
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李文军
;
郑利颖
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郑利颖
;
魏连成
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魏连成
.
中国专利
:CN107276695A
,2017-10-20
[9]
一种频谱仪
[P].
吴永康
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机构:
深圳市鼎阳科技股份有限公司
深圳市鼎阳科技股份有限公司
吴永康
;
刘源
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深圳市鼎阳科技股份有限公司
深圳市鼎阳科技股份有限公司
刘源
;
石真宇
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机构:
深圳市鼎阳科技股份有限公司
深圳市鼎阳科技股份有限公司
石真宇
.
中国专利
:CN119395373A
,2025-02-07
[10]
一种频谱仪
[P].
吴永康
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机构:
深圳市鼎阳科技股份有限公司
深圳市鼎阳科技股份有限公司
吴永康
;
刘源
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机构:
深圳市鼎阳科技股份有限公司
深圳市鼎阳科技股份有限公司
刘源
;
石真宇
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机构:
深圳市鼎阳科技股份有限公司
深圳市鼎阳科技股份有限公司
石真宇
.
中国专利
:CN119395373B
,2025-09-09
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