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一种基于频谱仪的噪声系数快速测试方法及测试系统
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202110748517.9
申请日
:
2021-07-02
公开(公告)号
:
CN113655301A
公开(公告)日
:
2021-11-16
发明(设计)人
:
甘欣辉
宋亮
姚连喜
万韬
郑前
周栋
彭景法
付元炳
申请人
:
申请人地址
:
212400 江苏省镇江市句容市空港新区16号
IPC主分类号
:
G01R2926
IPC分类号
:
代理机构
:
江苏圣典律师事务所 32237
代理人
:
滕敏
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
引用
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-12-03
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 29/26 申请日:20210702
2022-01-11
发明专利申请公布后的撤回
发明专利申请公布后的撤回 IPC(主分类):G01R 29/26 申请公布日:20211116
2021-11-16
公开
公开
共 50 条
[1]
一种频谱仪测量变频噪声系数的系统及方法
[P].
龙双
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机构:
深圳市鼎阳科技股份有限公司
深圳市鼎阳科技股份有限公司
龙双
;
杨晗
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机构:
深圳市鼎阳科技股份有限公司
深圳市鼎阳科技股份有限公司
杨晗
;
林涛
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机构:
深圳市鼎阳科技股份有限公司
深圳市鼎阳科技股份有限公司
林涛
.
中国专利
:CN118033251B
,2024-07-16
[2]
一种频谱仪测量变频噪声系数的系统及方法
[P].
龙双
论文数:
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机构:
深圳市鼎阳科技股份有限公司
深圳市鼎阳科技股份有限公司
龙双
;
杨晗
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机构:
深圳市鼎阳科技股份有限公司
深圳市鼎阳科技股份有限公司
杨晗
;
林涛
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机构:
深圳市鼎阳科技股份有限公司
深圳市鼎阳科技股份有限公司
林涛
.
中国专利
:CN118033251A
,2024-05-14
[3]
一种基于多通道频谱仪的噪声系数测量方法
[P].
郑永丰
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郑永丰
;
张贵恒
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张贵恒
;
董阳
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董阳
;
苗学问
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苗学问
;
刁静
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刁静
.
中国专利
:CN112684264A
,2021-04-20
[4]
射频噪声系数测试系统及测试方法、机箱
[P].
袁其响
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机构:
上海新微半导体有限公司
上海新微半导体有限公司
袁其响
;
宋晓天
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机构:
上海新微半导体有限公司
上海新微半导体有限公司
宋晓天
;
张然
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机构:
上海新微半导体有限公司
上海新微半导体有限公司
张然
.
中国专利
:CN120761722A
,2025-10-10
[5]
一种频谱分析仪噪声系数测试方法
[P].
杨东营
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杨东营
;
许建华
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许建华
;
杜会文
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杜会文
;
宋青娥
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宋青娥
;
赵永志
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赵永志
.
中国专利
:CN115656651A
,2023-01-31
[6]
噪声系数测试电路及装置
[P].
周杨
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周杨
;
孙现福
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孙现福
;
欧阳思华
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欧阳思华
;
黄文涛
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黄文涛
.
中国专利
:CN215340084U
,2021-12-28
[7]
D波段噪声系数测试电路及测试方法
[P].
吕涤坤
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机构:
上海鳌太电子科技有限公司
上海鳌太电子科技有限公司
吕涤坤
;
王明福
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机构:
上海鳌太电子科技有限公司
上海鳌太电子科技有限公司
王明福
.
中国专利
:CN117665424A
,2024-03-08
[8]
用于噪声系数测试的装置
[P].
马小芳
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马小芳
;
李国清
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李国清
;
崔巍
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崔巍
;
潘淼
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潘淼
;
张玲
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张玲
.
中国专利
:CN204479745U
,2015-07-15
[9]
一种噪声系数测试电路、方法及装置
[P].
周杨
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周杨
;
孙现福
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孙现福
;
欧阳思华
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欧阳思华
;
黄文涛
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黄文涛
.
中国专利
:CN112798879A
,2021-05-14
[10]
太赫兹低噪声放大器芯片的噪声系数测试系统及测试方法
[P].
陆海燕
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机构:
中国电子科技集团公司第五十五研究所
中国电子科技集团公司第五十五研究所
陆海燕
;
陈忠飞
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机构:
中国电子科技集团公司第五十五研究所
中国电子科技集团公司第五十五研究所
陈忠飞
;
郭方金
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机构:
中国电子科技集团公司第五十五研究所
中国电子科技集团公司第五十五研究所
郭方金
;
钱骏
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机构:
中国电子科技集团公司第五十五研究所
中国电子科技集团公司第五十五研究所
钱骏
;
孙远
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机构:
中国电子科技集团公司第五十五研究所
中国电子科技集团公司第五十五研究所
孙远
;
王维波
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机构:
中国电子科技集团公司第五十五研究所
中国电子科技集团公司第五十五研究所
王维波
;
陈堂胜
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机构:
中国电子科技集团公司第五十五研究所
中国电子科技集团公司第五十五研究所
陈堂胜
.
中国专利
:CN117723851A
,2024-03-19
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