射频噪声系数测试系统及测试方法、机箱

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202511018116.2

申请日：

2025-07-23

公开(公告)号：

CN120761722A

公开(公告)日：

2025-10-10

发明(设计)人：

袁其响宋晓天张然

申请人：

上海新微半导体有限公司

申请人地址：

200120 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区临港新片区飞渡路2020号

IPC主分类号：

G01R29/26

IPC分类号：

代理机构：

上海光华专利事务所(普通合伙) 31219

代理人：

林丽丽

法律状态：

公开

国省代码：

上海市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-10-10	公开	公开
2025-10-28	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01R 29/26申请日:20250723

共 50 条

[1]

噪声系数测试电路及装置 [P].

周杨 ;

孙现福 ;

欧阳思华 ;

黄文涛 .

中国专利 :CN215340084U ,2021-12-28

[2]

D波段噪声系数测试电路及测试方法 [P].

吕涤坤 ;

王明福 .

中国专利 :CN117665424A ,2024-03-08

[3]

一种噪声系数测试电路、方法及装置 [P].

周杨 ;

孙现福 ;

欧阳思华 ;

黄文涛 .

中国专利 :CN112798879A ,2021-05-14

[4]

扩频模块、在片测试系统及其S参数、噪声系数测试方法 [P].

吴亮 ;

李江夏 ;

任轩邑 ;

高婕 ;

袁其响 ;

许东 .

中国专利 :CN113358946A ,2021-09-07

[5]

用于噪声系数测试的装置 [P].

马小芳 ;

李国清 ;

崔巍 ;

潘淼 ;

张玲 .

中国专利 :CN204479745U ,2015-07-15

[6]

扩频模块、在片测试系统及其S参数、噪声系数测试方法 [P].

吴亮 ;

李江夏 ;

任轩邑 ;

高婕 ;

袁其响 ;

许东 .

中国专利 :CN113358946B ,2024-06-07

[7]

一种基于频谱仪的噪声系数快速测试方法及测试系统 [P].

甘欣辉 ;

宋亮 ;

姚连喜 ;

万韬 ;

郑前 ;

周栋 ;

彭景法 ;

付元炳 .

中国专利 :CN113655301A ,2021-11-16

[8]

太赫兹低噪声放大器芯片的噪声系数测试系统及测试方法 [P].

陆海燕 ;

陈忠飞 ;

郭方金 ;

钱骏 ;

孙远 ;

王维波 ;

陈堂胜 .

中国专利 :CN117723851A ,2024-03-19

[9]

一种变频器件噪声系数测试方法及系统 [P].

郑利颖 ;

宋青娥 ;

魏连成 ;

李文军 ;

薛龙 .

中国专利 :CN116203331B ,2025-10-31

[10]

一种太赫兹低噪放噪声系数测试系统及方法 [P].

唐靖超 ;

鲁洪佐 ;

张文兴 ;

周伟龙 ;

姜万顺 ;

邓建钦 ;

王琦 ;

石先宝 ;

贾定宏 ;

王沫 ;

王明超 ;

张胜洲 ;

梁晓林 ;

徐玉华 .

中国专利 :CN119574997A ,2025-03-07

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