一种基于改进网络的芯片表面缺陷检测方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110868507.9

申请日：

2021-07-30

公开(公告)号：

CN113554631B

公开(公告)日：

2024-02-20

发明(设计)人：

任获荣冯帅波焦昶哲秦红波吕银飞郭亚飞

申请人：

西安电子科技大学

申请人地址：

710071 陕西省西安市雁塔区太白南路2号西安电子科技大学北校区

IPC主分类号：

G06T7/00

IPC分类号：

G06T7/11 G06T7/136 G06V10/25 G06V10/764 G06N3/0464

代理机构：

郑州知倍通知识产权代理事务所(普通合伙) 41191

代理人：

夏开松

法律状态：

授权

国省代码：

陕西省西安市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-02-20	授权	授权

共 50 条

[1]

一种基于改进网络的芯片表面缺陷检测方法 [P].

任获荣 ;

冯帅波 ;

焦昶哲 ;

秦红波 ;

吕银飞 ;

郭亚飞 .

中国专利 :CN113554631A ,2021-10-26

[2]

基于改进YOLOV8网络的芯片表面缺陷检测方法 [P].

邓阳君 ;

唐文杰 ;

喻志强 ;

龙陈锋 ;

王伟业 ;

刘艳金 ;

李睿 .

中国专利 :CN120374555A ,2025-07-25

[3]

一种基于改进YOLOv8的芯片表面缺陷检测方法及系统 [P].

唐武海 ;

陈华 ;

夏红杰 ;

贾玉博 ;

吴文豪 .

中国专利 :CN119831936A ,2025-04-15

[4]

一种基于改进YOLOv8的芯片表面缺陷检测方法 [P].

耿丽清 ;

朱心颖 ;

杨耿煌 .

中国专利 :CN120198388A ,2025-06-24

[5]

一种基于改进的YOLOv11的芯片表面缺陷目标检测方法 [P].

邓月明 ;

罗涛 ;

李幸原 .

中国专利 :CN120219395A ,2025-06-27

[6]

一种芯片表面缺陷检测方法 [P].

耿丽清 ;

朱心颖 ;

杨耿煌 .

中国专利 :CN119991558A ,2025-05-13

[7]

一种芯片表面缺陷检测方法 [P].

李春啸 .

中国专利 :CN119477834A ,2025-02-18

[8]

一种芯片表面缺陷检测方法和装置 [P].

周许超 ;

张凯 ;

熊超 ;

杨霖 .

中国专利 :CN114170165A ,2022-03-11

[9]

一种基于卷积神经网络的小样本芯片表面缺陷检测方法 [P].

刘志平 ;

洪建立 .

中国专利 :CN120912494A ,2025-11-07

[10]

一种基于改进卷积变分自编码器的芯片表面缺陷并行检测方法 [P].

任获荣 ;

马振 ;

韩健 ;

平续斌 ;

焦小强 ;

张志新 .

中国专利 :CN114463280A ,2022-05-10

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