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应用测试方法、装置、计算机设备及存储介质

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202311643070.4
申请日：
2023-12-01
公开(公告)号：
CN117648255A
公开(公告)日：
2024-03-05
发明(设计)人：
卢列文 金先涛 黄磊 陈俊名 张鑫 谭政 滕肖 杨盛明 周进林
申请人：
中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室））
申请人地址：
511370 广东省广州市增城区朱村街朱村大道西78号
IPC主分类号：
G06F11/36
IPC分类号：
G06F21/57
代理机构：
华进联合专利商标代理有限公司 44224
代理人：
袁武
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2024-03-05 公开 公开
2024-03-22 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/36申请日:20231201
共 50 条
[1]
应用测试方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质 [P]. 
刘嘉琦 ;
周岩磊 ;
何浩恩 .
中国专利 :CN119292917A ,2025-01-10
[2]
接口测试方法、装置、计算机设备及存储介质 [P]. 
许峰 .
中国专利 :CN113342677A ,2021-09-03
[3]
应用的测试方法、装置、计算机设备及存储介质 [P]. 
林建明 ;
林奕波 .
中国专利 :CN115061859A ,2022-09-16
[4]
测试方法、装置、计算机设备及存储介质 [P]. 
王骞 ;
张行程 .
中国专利 :CN112597046B ,2024-08-09
[5]
测试方法、装置、计算机设备及存储介质 [P]. 
王骞 ;
张行程 .
中国专利 :CN112597046A ,2021-04-02
[6]
测试方法、装置、计算机设备及存储介质 [P]. 
楚西坤 .
中国专利 :CN114283870A ,2022-04-05
[7]
存储设备测试方法、装置、计算机设备及存储介质 [P]. 
亓国强 ;
张在理 ;
夏方健 .
中国专利 :CN119943127A ,2025-05-06
[8]
存储设备测试方法、装置、计算机设备及存储介质 [P]. 
亓国强 ;
张在理 ;
夏方健 .
中国专利 :CN119943127B ,2025-09-30
[9]
芯片测试方法、装置、系统、计算机设备及存储介质 [P]. 
郭忠宇 ;
张亮 .
中国专利 :CN119780679A ,2025-04-08
[10]
应用测试方法、装置、计算机设备及存储介质 [P]. 
郭文广 ;
李腾飞 .
中国专利 :CN117407312A ,2024-01-16
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