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芯片测试方法、装置、系统、计算机设备及存储介质

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202411978405.2
申请日：
2024-12-31
公开(公告)号：
CN119780679A
公开(公告)日：
2025-04-08
发明(设计)人：
郭忠宇 张亮
申请人：
湖北思朗通信科技有限公司
申请人地址：
432012 湖北省武汉市孝感市孝汉大道29号高创智造产业园东2号厂房102
IPC主分类号：
G01R31/28
IPC分类号：
代理机构：
北京科慧致远知识产权代理有限公司 11739
代理人：
王乾旭
法律状态：
著录事项变更
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-08-26 著录事项变更 著录事项变更IPC(主分类):G01R 31/28变更事项:申请人变更前:湖北思朗通信科技有限公司变更后:湖北思朗通信科技有限公司变更事项:国家或地区变更前:中国变更后:中国变更事项:地址变更前:432012 湖北省武汉市孝感市孝汉大道29号高创智造产业园东2号厂房102变更后:432012 湖北省孝感市孝汉大道29号高创智造产业园东2号厂房102
2025-04-25 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20241231
2025-04-08 公开 公开
共 50 条
[1]
芯片测试方法、装置、计算机设备及存储介质 [P]. 
陈杰 ;
侯永 .
中国专利 :CN117706324A ,2024-03-15
[2]
芯片测试方法、装置、计算机设备及存储介质 [P]. 
请求不公布姓名 .
中国专利 :CN117783839B ,2024-10-11
[3]
芯片测试方法、装置、计算机设备及存储介质 [P]. 
请求不公布姓名 .
中国专利 :CN117783839A ,2024-03-29
[4]
芯片测试方法、装置、计算机设备及存储介质 [P]. 
孟阳 ;
姚香君 ;
刘世伟 ;
董艳 ;
张梦柯 ;
罗迪 .
中国专利 :CN120929316A ,2025-11-11
[5]
芯片测试方法、系统、计算机设备及存储介质 [P]. 
陈佳楠 ;
陈杰夫 ;
杨泽坤 ;
李安平 .
中国专利 :CN121231981A ,2025-12-30
[6]
芯片测试方法、装置、计算机设备和存储介质 [P]. 
张学利 ;
张玄 .
中国专利 :CN119902940A ,2025-04-29
[7]
设备测试系统、方法、计算机设备及存储介质 [P]. 
丁兆鹏 ;
杨永峰 .
中国专利 :CN120216273A ,2025-06-27
[8]
设备测试系统、方法、计算机设备及存储介质 [P]. 
丁兆鹏 ;
杨永峰 .
中国专利 :CN120216273B ,2025-08-08
[9]
测试方法、装置、计算机设备及存储介质 [P]. 
楚西坤 .
中国专利 :CN114283870A ,2022-04-05
[10]
芯片测试系统、方法、计算机设备、可读存储介质和程序产品 [P]. 
王肖 ;
孙百勋 .
中国专利 :CN119224539A ,2024-12-31
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