芯片测试方法、装置、计算机设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202511133733.7

申请日：

2025-08-13

公开(公告)号：

CN120929316A

公开(公告)日：

2025-11-11

发明(设计)人：

孟阳姚香君刘世伟董艳张梦柯罗迪

申请人：

济南迈威智能科技有限公司

申请人地址：

250000 山东省济南市高新区舜华路街道浪潮路1036号浪潮科技园S02楼32层3202室

IPC主分类号：

G06F11/22

IPC分类号：

G01R31/28 G06N3/006

代理机构：

北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250

代理人：

李静玉

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-11-28	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/22申请日:20250813
2025-11-11	公开	公开

共 50 条

[1]

芯片测试方法、装置、系统、计算机设备及存储介质 [P].

郭忠宇 ;

张亮 .

中国专利 :CN119780679A ,2025-04-08

[2]

芯片测试方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

张学利 ;

张玄 .

中国专利 :CN119902940A ,2025-04-29

[3]

接口测试方法、装置、计算机设备及存储介质 [P].

涂丽燕 .

中国专利 :CN121210323A ,2025-12-26

[4]

芯片测试方法、装置、计算机设备及存储介质 [P].

陈杰 ;

侯永 .

中国专利 :CN117706324A ,2024-03-15

[5]

芯片测试方法、装置、计算机设备及存储介质 [P].

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN117783839B ,2024-10-11

[6]

芯片测试方法、装置、计算机设备及存储介质 [P].

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN117783839A ,2024-03-29

[7]

接口测试方法、装置、计算机设备、存储介质 [P].

李汉超 ;

陈蹊 ;

李鑫 .

中国专利 :CN119003345A ,2024-11-22

[8]

测试数据组合处理方法、装置、计算机设备及存储介质 [P].

施云云 ;

毛建杰 ;

李茜 ;

王涛 ;

赵大平 ;

王琪 ;

黄智勇 ;

黄克华 ;

孙前方 ;

陈效华 .

中国专利 :CN119621534A ,2025-03-14

[9]

芯片测试方法、系统、计算机设备及存储介质 [P].

陈佳楠 ;

陈杰夫 ;

杨泽坤 ;

李安平 .

中国专利 :CN121231981A ,2025-12-30

[10]

数据融合方法、装置、计算机设备及计算机存储介质 [P].

周剀 ;

刘嘉 .

中国专利 :CN110580304A ,2019-12-17

← 1 2 3 4 5 →