芯片测试方法、系统、计算机设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202511325699.3

申请日：

2025-09-16

公开(公告)号：

CN121231981A

公开(公告)日：

2025-12-30

发明(设计)人：

陈佳楠陈杰夫杨泽坤李安平

申请人：

深圳米飞泰克科技股份有限公司

申请人地址：

518000 广东省深圳市龙岗区宝龙街道清风大道28号安博科技厂区1号厂房1、5、6层

IPC主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

代理机构：

深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414

代理人：

王善娜

法律状态：

公开

国省代码：

广东省深圳市

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-12-30	公开	公开

共 50 条

[1]

芯片测试方法、装置、系统、计算机设备及存储介质 [P].

郭忠宇 ;

张亮 .

中国专利 :CN119780679A ,2025-04-08

[2]

芯片测试方法、装置、计算机设备及存储介质 [P].

陈杰 ;

侯永 .

中国专利 :CN117706324A ,2024-03-15

[3]

芯片测试方法、装置、计算机设备及存储介质 [P].

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN117783839B ,2024-10-11

[4]

芯片测试方法、装置、计算机设备及存储介质 [P].

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN117783839A ,2024-03-29

[5]

芯片测试方法、装置、计算机设备及存储介质 [P].

孟阳 ;

姚香君 ;

刘世伟 ;

董艳 ;

张梦柯 ;

罗迪 .

中国专利 :CN120929316A ,2025-11-11

[6]

测试方法、系统、计算机设备及存储介质 [P].

吴阳 ;

赵东波 ;

李秉奎 ;

赵春鹏 .

中国专利 :CN120045456A ,2025-05-27

[7]

测试方法、系统、计算机设备及存储介质 [P].

曾三兴 .

中国专利 :CN112395187A ,2021-02-23

[8]

芯片测试方法、装置、系统、计算机设备和存储介质 [P].

杨峰 ;

魏斯默 .

中国专利 :CN117907791A ,2024-04-19

[9]

芯片测试方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

蒋进松 ;

张沈宇 ;

马云姣 ;

魏中晴 ;

谭渝 .

中国专利 :CN118069440A ,2024-05-24

[10]

芯片测试方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

张学利 ;

张玄 .

中国专利 :CN119902940A ,2025-04-29

← 1 2 3 4 5 →