芯片测试系统、方法、计算机设备、可读存储介质和程序产品

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202411412827.3
申请日
2024-10-11
公开(公告)号
CN119224539A
公开(公告)日
2024-12-31
发明(设计)人
王肖 孙百勋
申请人
苏州华兴源创科技股份有限公司
申请人地址
215000 江苏省苏州市苏州工业园区青丘巷8号
IPC主分类号
G01R31/28
IPC分类号
代理机构
华进联合专利商标代理有限公司 44224
代理人
郑斯炯
法律状态
实质审查的生效
国省代码
江苏省 苏州市
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共 50 条
[1]
芯片测试方法、装置、计算机设备、可读存储介质和程序产品 [P]. 
游飞 ;
李茂 ;
张驰恒 .
中国专利 :CN120066875A ,2025-05-30
[2]
芯片测试方法、装置、计算机设备、可读存储介质和程序产品 [P]. 
雷金树 ;
游飞 ;
肖建利 ;
周扬 ;
胡勇 .
中国专利 :CN118534301A ,2024-08-23
[3]
芯片测试方法、装置、计算机设备、可读存储介质和程序产品 [P]. 
游飞 ;
李茂 ;
张驰恒 .
中国专利 :CN120066875B ,2025-07-18
[4]
测试方法、计算机设备、可读存储介质和程序产品 [P]. 
季新生 ;
蒋晓维 ;
李彧 ;
张晓昱 .
中国专利 :CN118673852A ,2024-09-20
[5]
系统测试方法、装置、计算机设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品 [P]. 
魏玮 .
中国专利 :CN119669085A ,2025-03-21
[6]
测试方法、系统、计算机设备及计算机可读存储介质 [P]. 
龙书成 ;
叶翔 ;
付玉乐 ;
李智 .
中国专利 :CN112665867A ,2021-04-16
[7]
芯片测试方法、装置、计算机设备和可读存储介质 [P]. 
魏中晴 ;
蒋进松 ;
张沈宇 ;
谭渝 .
中国专利 :CN118884163A ,2024-11-01
[8]
测试方法、装置、计算机设备、可读存储介质和程序产品 [P]. 
胡超 ;
梁伟 .
中国专利 :CN119512839A ,2025-02-25
[9]
测试方法、装置、计算机设备、可读存储介质和程序产品 [P]. 
何贵 ;
王博 .
中国专利 :CN118487969A ,2024-08-13
[10]
测试方法、装置、计算机设备、可读存储介质和程序产品 [P]. 
李东辉 ;
孙天宇 ;
唐高桃 .
中国专利 :CN121231875A ,2025-12-30