显卡测试治具

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202322763900.9

申请日：

2023-10-13

公开(公告)号：

CN220913196U

公开(公告)日：

2024-05-07

发明(设计)人：

何瑞宏邵长彬

申请人：

怡洋超微电子科技（惠州）有限公司

申请人地址：

516083 广东省惠州市大亚湾西区中海科技(惠州)有限公司3号厂房

IPC主分类号：

G01R1/04

IPC分类号：

G01R31/317

代理机构：

北京国昊天诚知识产权代理有限公司 11315

代理人：

林怡妏

法律状态：

授权

国省代码：

四川省攀枝花市

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-05-07	授权	授权

共 50 条

[1]

一种显卡测试治具 [P].

董林专 ;

董连化 .

中国专利 :CN220962332U ,2024-05-14

[2]

一种显卡测试治具及显卡夹具 [P].

吴锦辉 .

中国专利 :CN210181164U ,2020-03-24

[3]

耐压测试治具 [P].

钱栋力 .

中国专利 :CN204065141U ,2014-12-31

[4]

耐压测试治具 [P].

郑龙 ;

符宏辉 .

中国专利 :CN208044006U ,2018-11-02

[5]

逆变器测试治具 [P].

肖人军 ;

檀义才 .

中国专利 :CN1952674A ,2007-04-25

[6]

老化测试治具 [P].

邵继铭 ;

刘坚辉 ;

胡盛俊 .

中国专利 :CN202093107U ,2011-12-28

[7]

测试治具及测试设备 [P].

梁在炯 ;

尹振武 .

中国专利 :CN111983424A ,2020-11-24

[8]

测试治具及具有所述测试治具的测试装置 [P].

聂小军 ;

徐菲芬 ;

王文平 .

中国专利 :CN109725209A ,2019-05-07

[9]

显卡测试系统及显卡测试方法 [P].

陈俊生 .

中国专利 :CN103927242A ,2014-07-16

[10]

NAND闪存测试治具 [P].

王玉伟 ;

郑双桥 ;

孙丹归 ;

邹小玲 .

中国专利 :CN220456093U ,2024-02-06

← 1 2 3 4 5 →