NAND闪存测试治具

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202321841710.8

申请日：

2023-07-13

公开(公告)号：

CN220456093U

公开(公告)日：

2024-02-06

发明(设计)人：

王玉伟郑双桥孙丹归邹小玲

申请人：

深圳市卓然电子有限公司

申请人地址：

518116 广东省深圳市龙岗区龙岗街道南联社区植物园路95-1号B501

IPC主分类号：

G11C29/56

IPC分类号：

代理机构：

深圳华屹智林知识产权代理事务所(普通合伙) 44785

代理人：

张奇

法律状态：

授权

国省代码：

广东省深圳市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-02-06	授权	授权

共 50 条

[1]

NAND闪存测试治具 [P].

张咪 .

中国专利 :CN209591535U ,2019-11-05

[2]

NAND闪存测试治具 [P].

张咪 .

中国专利 :CN109994148B ,2024-09-13

[3]

NAND闪存测试治具 [P].

张咪 .

中国专利 :CN109994148A ,2019-07-09

[4]

一种NAND闪存测试治具 [P].

王玉伟 .

中国专利 :CN216980124U ,2022-07-15

[5]

NAND闪存的版图结构和NAND闪存芯片 [P].

苏志强 ;

张现聚 ;

李建新 ;

纪艳丽 .

中国专利 :CN206672641U ,2017-11-24

[6]

弹簧测试治具 [P].

蔡汉荣 ;

周国楷 .

中国专利 :CN222652506U ,2025-03-21

[7]

芯片测试治具 [P].

孙圣钦 .

中国专利 :CN209673621U ,2019-11-22

[8]

一种nand flash储存芯片测试治具 [P].

黄辉 .

中国专利 :CN211699725U ,2020-10-16

[9]

一种Nand Flash储存芯片测试治具 [P].

罗锡彦 ;

唐明星 ;

罗涛 .

中国专利 :CN222995102U ,2025-06-17

[10]

测试治具 [P].

傅显辉 .

中国专利 :CN203191515U ,2013-09-11

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