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NAND闪存测试治具
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN201920720476.0
申请日
:
2019-05-17
公开(公告)号
:
CN209591535U
公开(公告)日
:
2019-11-05
发明(设计)人
:
张咪
申请人
:
申请人地址
:
518000 广东省深圳市宝安区福永镇和平村荔园路盛和兴生活区D3栋110-111
IPC主分类号
:
G11C2956
IPC分类号
:
代理机构
:
北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463
代理人
:
徐丽
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2019-11-05
授权
授权
共 50 条
[1]
NAND闪存测试治具
[P].
张咪
论文数:
0
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0
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0
机构:
深圳文治电子有限公司
深圳文治电子有限公司
张咪
.
中国专利
:CN109994148B
,2024-09-13
[2]
NAND闪存测试治具
[P].
张咪
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0
张咪
.
中国专利
:CN109994148A
,2019-07-09
[3]
NAND闪存测试治具
[P].
王玉伟
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机构:
深圳市卓然电子有限公司
深圳市卓然电子有限公司
王玉伟
;
郑双桥
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机构:
深圳市卓然电子有限公司
深圳市卓然电子有限公司
郑双桥
;
孙丹归
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机构:
深圳市卓然电子有限公司
深圳市卓然电子有限公司
孙丹归
;
邹小玲
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机构:
深圳市卓然电子有限公司
深圳市卓然电子有限公司
邹小玲
.
中国专利
:CN220456093U
,2024-02-06
[4]
一种NAND闪存测试治具
[P].
王玉伟
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王玉伟
.
中国专利
:CN216980124U
,2022-07-15
[5]
测试治具
[P].
李智德
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机构:
深圳市业展电子有限公司
深圳市业展电子有限公司
李智德
;
胡紫阳
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机构:
深圳市业展电子有限公司
深圳市业展电子有限公司
胡紫阳
;
邓小辉
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机构:
深圳市业展电子有限公司
深圳市业展电子有限公司
邓小辉
.
中国专利
:CN222280686U
,2024-12-31
[6]
测试治具
[P].
陈朝飞
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陈朝飞
;
彭中朝
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彭中朝
;
王武吉
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王武吉
;
王鄢
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王鄢
;
王连强
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王连强
;
晏欢忠
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晏欢忠
.
中国专利
:CN211206570U
,2020-08-07
[7]
测试治具
[P].
侯绍铮
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宁畅信息技术(杭州)有限公司
宁畅信息技术(杭州)有限公司
侯绍铮
;
马骏驰
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宁畅信息技术(杭州)有限公司
宁畅信息技术(杭州)有限公司
马骏驰
;
胡远明
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宁畅信息技术(杭州)有限公司
宁畅信息技术(杭州)有限公司
胡远明
;
秦晓宁
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宁畅信息技术(杭州)有限公司
宁畅信息技术(杭州)有限公司
秦晓宁
;
魏云篷
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机构:
宁畅信息技术(杭州)有限公司
宁畅信息技术(杭州)有限公司
魏云篷
.
中国专利
:CN221405954U
,2024-07-23
[8]
NAND闪存的版图结构和NAND闪存芯片
[P].
苏志强
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苏志强
;
张现聚
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张现聚
;
李建新
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李建新
;
纪艳丽
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纪艳丽
.
中国专利
:CN206672641U
,2017-11-24
[9]
线路板测试治具
[P].
周永林
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周永林
;
王龙龙
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王龙龙
;
张波
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张波
.
中国专利
:CN204028300U
,2014-12-17
[10]
内存测试治具
[P].
郭雅珲
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郭雅珲
;
陈志丰
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陈志丰
.
中国专利
:CN201251780Y
,2009-06-03
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