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金属构件晶粒组织电光原位无损检测方法与系统

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202410314703.5
申请日：
2024-03-19
公开(公告)号：
CN118112208A
公开(公告)日：
2024-05-31
发明(设计)人：
华林 董康 钱东升 王丰 秦训鹏
申请人：
武汉理工大学
申请人地址：
430000 湖北省武汉市洪山区珞狮路122号
IPC主分类号：
G01N33/204
IPC分类号：
G01N33/2045
代理机构：
武汉红观专利代理事务所(普通合伙) 42247
代理人：
黄永亮
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
湖北省 武汉市
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2024-06-18 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G01N 33/204申请日:20240319
2024-05-31 公开 公开
2024-08-20 授权 授权
共 50 条
[1]
金属构件晶粒组织电光原位无损检测方法与系统 [P]. 
华林 ;
董康 ;
钱东升 ;
王丰 ;
秦训鹏 .
中国专利 :CN118112208B ,2024-08-20
[2]
金属构件微米级缺陷电光原位无损检测方法与系统 [P]. 
华林 ;
董康 ;
钱东升 ;
王丰 ;
秦训鹏 .
中国专利 :CN118190945A ,2024-06-14
[3]
金属构件微米级缺陷电光原位无损检测方法与系统 [P]. 
华林 ;
董康 ;
钱东升 ;
王丰 ;
秦训鹏 .
中国专利 :CN118190945B ,2024-09-06
[4]
金属构件损伤无损检测系统及检测方法 [P]. 
王海斗 ;
杨大祥 ;
张玉波 ;
徐滨士 ;
朴钟宇 ;
宋亚南 .
中国专利 :CN102809611A ,2012-12-05
[5]
一种金属构件磁性能无损检测方法 [P]. 
王丰 ;
钱东升 ;
冉广泽 ;
华林 .
中国专利 :CN118519082A ,2024-08-20
[6]
一种金属构件磁性能无损检测方法 [P]. 
王丰 ;
钱东升 ;
冉广泽 ;
华林 .
中国专利 :CN118519082B ,2025-01-21
[7]
一种金属构件损伤状态电阻无损检测方法与装置 [P]. 
王丰 ;
钱东升 ;
华林 ;
程喆 .
中国专利 :CN118090839A ,2024-05-28
[8]
一种基于金属构件轮廓重构的无损检测系统及方法 [P]. 
申嘉龙 ;
白雪 ;
朱峰宽 ;
夏子涵 ;
尹武良 ;
方洁 ;
杨凯 ;
丁政 .
中国专利 :CN118961869A ,2024-11-15
[9]
一种金属构件探伤检测系统及方法 [P]. 
邱燕 ;
熊超 .
中国专利 :CN120354366B ,2025-08-19
[10]
一种金属构件探伤检测系统及方法 [P]. 
邱燕 ;
熊超 .
中国专利 :CN120354366A ,2025-07-22
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