金属构件微米级缺陷电光原位无损检测方法与系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410303103.9

申请日：

2024-03-18

公开(公告)号：

CN118190945A

公开(公告)日：

2024-06-14

发明(设计)人：

华林董康钱东升王丰秦训鹏

申请人：

武汉理工大学

申请人地址：

430000 湖北省武汉市洪山区珞狮路122号

IPC主分类号：

G01N21/88

IPC分类号：

G01N21/95 G01J5/48 G01N25/72 G06V10/75 G06V20/64 G06V10/26 G06N3/08

代理机构：

武汉红观专利代理事务所(普通合伙) 42247

代理人：

黄永亮

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

湖北省武汉市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-07-02	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01N 21/88申请日:20240318
2024-09-06	授权	授权
2024-06-14	公开	公开

共 50 条

[1]

金属构件微米级缺陷电光原位无损检测方法与系统 [P].

华林 ;

董康 ;

钱东升 ;

王丰 ;

秦训鹏 .

中国专利 :CN118190945B ,2024-09-06

[2]

金属构件晶粒组织电光原位无损检测方法与系统 [P].

华林 ;

董康 ;

钱东升 ;

王丰 ;

秦训鹏 .

中国专利 :CN118112208A ,2024-05-31

[3]

金属构件晶粒组织电光原位无损检测方法与系统 [P].

华林 ;

董康 ;

钱东升 ;

王丰 ;

秦训鹏 .

中国专利 :CN118112208B ,2024-08-20

[4]

金属构件损伤无损检测系统及检测方法 [P].

王海斗 ;

杨大祥 ;

张玉波 ;

徐滨士 ;

朴钟宇 ;

宋亚南 .

中国专利 :CN102809611A ,2012-12-05

[5]

一种金属构件磁性能无损检测方法 [P].

王丰 ;

钱东升 ;

冉广泽 ;

华林 .

中国专利 :CN118519082A ,2024-08-20

[6]

一种金属构件磁性能无损检测方法 [P].

王丰 ;

钱东升 ;

冉广泽 ;

华林 .

中国专利 :CN118519082B ,2025-01-21

[7]

一种金属构件损伤状态电阻无损检测方法与装置 [P].

王丰 ;

钱东升 ;

华林 ;

程喆 .

中国专利 :CN118090839A ,2024-05-28

[8]

金属构件中夹杂缺陷检测方法 [P].

焦敬品 ;

张强 .

中国专利 :CN106645435A ,2017-05-10

[9]

一种金属构件表面涂层缺陷的X射线无损检测装置及方法 [P].

张津 ;

连勇 ;

徐伟生 ;

焦进超 ;

杨振波 .

中国专利 :CN110057850A ,2019-07-26

[10]

一种金属构件表面涂层缺陷的X射线无损检测装置及方法 [P].

张津 ;

连勇 ;

徐伟生 ;

焦进超 ;

杨振波 .

中国专利 :CN110057850B ,2024-12-10

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