一种新型的并行测试系统与方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410172570.2

申请日：

2024-02-07

公开(公告)号：

CN118068170A

公开(公告)日：

2024-05-24

发明(设计)人：

傅秀菲鲍小燕朱倩昃妤婷

申请人：

上海华岭集成电路技术股份有限公司

申请人地址：

201203 上海市浦东新区郭守敬路351号2号楼

IPC主分类号：

G01R31/3183

IPC分类号：

代理机构：

上海海贝律师事务所 31301

代理人：

朱震林

法律状态：

公开

国省代码：

上海市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-05-24	公开	公开
2024-06-11	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/3183申请日:20240207

共 50 条

[1]

一种并行测试系统及其测试方法 [P].

成家柏 ;

陆梅君 ;

杨慎知 .

中国专利 :CN112147482A ,2020-12-29

[2]

一种光产品多工位并行测试系统及测试方法 [P].

徐之光 ;

张茹 ;

程东 .

中国专利 :CN121163839A ,2025-12-19

[3]

用于在并行测试系统中调度测试的方法和系统 [P].

安卡恩·普兰马尼克 ;

足立敏明 ;

马克·埃尔斯顿 .

中国专利 :CN101120262B ,2008-02-06

[4]

并行测试系统及其测试方法 [P].

吴奇伟 ;

尹彬锋 ;

王炯 .

中国专利 :CN104076267B ,2014-10-01

[5]

一种车载电子产品的并行测试系统 [P].

李建林 ;

张廷 .

中国专利 :CN222280740U ,2024-12-31

[6]

一种DAC电路并行测试系统及并行测试方法 [P].

叶刚 .

中国专利 :CN106603074A ,2017-04-26

[7]

一种并行测试系统及测试方法 [P].

李廷勇 .

中国专利 :CN105376108A ,2016-03-02

[8]

一种复合并行测试系统及方法 [P].

黄儒平 ;

林振国 ;

黄建强 ;

王金华 .

中国专利 :CN104880618B ,2015-09-02

[9]

一种终测并行测试方法及系统 [P].

艾智娟 .

中国专利 :CN115643197A ,2023-01-24

[10]

基于单片机的异步通讯并行测试系统及测试方法 [P].

李安平 ;

欧纲 ;

王健 ;

舒雄 ;

孔晓琳 ;

李建强 ;

云星 ;

李旺军 .

中国专利 :CN110286314A ,2019-09-27

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