方便更换测试探针的探针卡

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专利类型
发明
申请号
CN202410013684.2
申请日
2024-01-04
公开(公告)号
CN117517735B
公开(公告)日
2024-03-15
发明(设计)人
江波
申请人
苏州迪克微电子有限公司
申请人地址
215000 江苏省苏州市吴中经济开发区田上江路103号1212室
IPC主分类号
G01R1/073
IPC分类号
G01R1/067
代理机构
代理人
法律状态
公开
国省代码
河北省 衡水市
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共 50 条
[1]
方便更换测试探针的探针卡 [P]. 
江波 .
中国专利 :CN117517735A ,2024-02-06
[2]
测试探针、探针卡和测试探针制造方法 [P]. 
刘俊良 ;
陈和也 ;
洪志纬 ;
千圣武 .
中国专利 :CN120405195A ,2025-08-01
[3]
测试探针卡 [P]. 
刘俊良 ;
陈和也 .
中国专利 :CN120405196A ,2025-08-01
[4]
测试探针卡 [P]. 
王小宝 ;
周柯 .
中国专利 :CN203772909U ,2014-08-13
[5]
测试探针卡 [P]. 
王嘉煜 ;
卢忻杰 ;
李荣富 .
中国专利 :CN202102019U ,2012-01-04
[6]
晶圆测试探针卡 [P]. 
马金明 .
中国专利 :CN103018501A ,2013-04-03
[7]
晶圆测试探针卡 [P]. 
吴梦丽 .
中国专利 :CN217007432U ,2022-07-19
[8]
晶圆测试探针卡 [P]. 
马金明 .
中国专利 :CN203011961U ,2013-06-19
[9]
晶圆测试探针卡 [P]. 
刘家铭 ;
张孝仁 ;
苏华庭 .
中国专利 :CN210604725U ,2020-05-22
[10]
晶圆测试探针卡 [P]. 
刘家铭 ;
张孝仁 ;
苏华庭 .
中国专利 :CN211206583U ,2020-08-07