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方便更换测试探针的探针卡
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202410013684.2
申请日
:
2024-01-04
公开(公告)号
:
CN117517735B
公开(公告)日
:
2024-03-15
发明(设计)人
:
江波
申请人
:
苏州迪克微电子有限公司
申请人地址
:
215000 江苏省苏州市吴中经济开发区田上江路103号1212室
IPC主分类号
:
G01R1/073
IPC分类号
:
G01R1/067
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
公开
国省代码
:
河北省 衡水市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-02-06
公开
公开
2024-02-27
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):G01R 1/073申请日:20240104
2024-03-15
授权
授权
共 50 条
[1]
方便更换测试探针的探针卡
[P].
江波
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
苏州迪克微电子有限公司
苏州迪克微电子有限公司
江波
.
中国专利
:CN117517735A
,2024-02-06
[2]
测试探针、探针卡和测试探针制造方法
[P].
刘俊良
论文数:
0
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0
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机构:
芯卓科技(浙江)有限公司
芯卓科技(浙江)有限公司
刘俊良
;
陈和也
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0
机构:
芯卓科技(浙江)有限公司
芯卓科技(浙江)有限公司
陈和也
;
洪志纬
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0
机构:
芯卓科技(浙江)有限公司
芯卓科技(浙江)有限公司
洪志纬
;
千圣武
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0
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0
机构:
芯卓科技(浙江)有限公司
芯卓科技(浙江)有限公司
千圣武
.
中国专利
:CN120405195A
,2025-08-01
[3]
测试探针卡
[P].
刘俊良
论文数:
0
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0
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机构:
芯卓科技(浙江)有限公司
芯卓科技(浙江)有限公司
刘俊良
;
陈和也
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0
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机构:
芯卓科技(浙江)有限公司
芯卓科技(浙江)有限公司
陈和也
.
中国专利
:CN120405196A
,2025-08-01
[4]
测试探针卡
[P].
王小宝
论文数:
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王小宝
;
周柯
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周柯
.
中国专利
:CN203772909U
,2014-08-13
[5]
测试探针卡
[P].
王嘉煜
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王嘉煜
;
卢忻杰
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卢忻杰
;
李荣富
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李荣富
.
中国专利
:CN202102019U
,2012-01-04
[6]
晶圆测试探针卡
[P].
马金明
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0
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马金明
.
中国专利
:CN103018501A
,2013-04-03
[7]
晶圆测试探针卡
[P].
吴梦丽
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吴梦丽
.
中国专利
:CN217007432U
,2022-07-19
[8]
晶圆测试探针卡
[P].
马金明
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0
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0
马金明
.
中国专利
:CN203011961U
,2013-06-19
[9]
晶圆测试探针卡
[P].
刘家铭
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刘家铭
;
张孝仁
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张孝仁
;
苏华庭
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苏华庭
.
中国专利
:CN210604725U
,2020-05-22
[10]
晶圆测试探针卡
[P].
刘家铭
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0
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刘家铭
;
张孝仁
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张孝仁
;
苏华庭
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苏华庭
.
中国专利
:CN211206583U
,2020-08-07
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