X射线荧光光谱修正方法及系统、分析仪、设备、介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202311856797.0
申请日
2023-12-29
公开(公告)号
CN117871573A
公开(公告)日
2024-04-12
发明(设计)人
梅延成 刘海东 刘德华 丁巧蓓
申请人
力合科技(湖南)股份有限公司
申请人地址
410205 湖南省长沙市高新区青山路668号
IPC主分类号
G01N23/223
IPC分类号
代理机构
长沙智嵘专利代理事务所(普通合伙) 43211
代理人
颜汉华
法律状态
公开
国省代码
江苏省 常州市
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共 50 条
[1]
X-射线荧光光谱分析仪 [P]. 
韩晓朋 .
中国专利 :CN204359714U ,2015-05-27
[2]
X‑射线荧光光谱分析仪 [P]. 
韩晓朋 .
中国专利 :CN104502386B ,2015-04-08
[3]
X-射线荧光光谱分析仪用样品杯 [P]. 
韩晓朋 .
中国专利 :CN204359716U ,2015-05-27
[4]
X射线荧光光谱分析仪 [P]. 
李福生 ;
徐磊 .
中国专利 :CN307087788S ,2022-01-28
[5]
便携式X射线荧光光谱成分分析仪 [P]. 
李福生 .
中国专利 :CN309055855S ,2025-01-07
[6]
X-射线荧光光谱分析仪及真空与样品腔隔离装置 [P]. 
韩晓朋 .
中国专利 :CN204462044U ,2015-07-08
[7]
荧光光谱修正方法及装置 [P]. 
吴静 ;
刘传旸 ;
王梓 ;
程澄 ;
沈鉴 ;
王士峰 .
中国专利 :CN115791737B ,2025-09-23
[8]
荧光X射线分析仪、荧光X射线分析方法及分析程序 [P]. 
臼井康博 .
中国专利 :CN1837796A ,2006-09-27
[9]
X荧光光谱分析仪 [P]. 
高华 ;
余正东 .
中国专利 :CN205384236U ,2016-07-13
[10]
X射线荧光光谱分析仪检测用液体样品免清洗盛放装置 [P]. 
魏长庆 .
中国专利 :CN214310238U ,2021-09-28