芯片、检测系统、检测方法及可读存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202211079929.9

申请日：

2022-09-05

公开(公告)号：

CN117645912A

公开(公告)日：

2024-03-05

发明(设计)人：

范蓓媛丁丁

申请人：

北京京东方技术开发有限公司京东方科技集团股份有限公司

申请人地址：

100176 北京市大兴区北京经济技术开发区地泽路9号1幢407室

IPC主分类号：

C12M1/00

IPC分类号：

C12M1/34 C12M1/24 C12M1/38 C12Q1/6837

代理机构：

北京安信方达知识产权代理有限公司 11262

代理人：

齐峰;曲鹏

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

北京市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-03-22	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):C12M 1/00申请日:20220905
2024-03-05	公开	公开

共 50 条

[1]

芯片、芯片总线的检测系统、检测方法及存储介质 [P].

唐平 .

中国专利 :CN113778734A ,2021-12-10

[2]

芯片、芯片总线的检测系统、检测方法及存储介质 [P].

唐平 .

中国专利 :CN113778734B ,2024-07-12

[3]

能耗检测方法、系统及可读存储介质 [P].

肖珍芳 ;

李浩锋 ;

文颖 ;

谭中柱 ;

欧阳星星 ;

陈超 .

中国专利 :CN117938908A ,2024-04-26

[4]

核酸检测方法、检测系统、PCR设备及可读存储介质 [P].

王泽南 ;

杨宇鹏 ;

胡颖 .

中国专利 :CN117683858A ,2024-03-12

[5]

目标检测方法、目标检测系统、装置及可读存储介质 [P].

黄安埠 .

中国专利 :CN110705627B ,2025-01-17

[6]

检测方法、检测系统及计算机可读存储介质 [P].

刘家奇 ;

朱晓峰 .

中国专利 :CN119090974A ,2024-12-06

[7]

目标检测方法、目标检测系统、装置及可读存储介质 [P].

黄安埠 .

中国专利 :CN110705627A ,2020-01-17

[8]

检测电路、检测系统、检测方法、主板和可读存储介质 [P].

吴英武 .

中国专利 :CN119806921A ,2025-04-11

[9]

缺陷检测系统、PCB线路缺陷检测方法及可读存储介质 [P].

李威剑 ;

尹天骄 ;

郭晓觅 ;

杨浩 ;

童毅炜 ;

张逸颖 ;

樊天宇 .

中国专利 :CN120028248A ,2025-05-23

[10]

检测设备及检测方法、检测系统及存储介质 [P].

陈鲁 ;

王南朔 ;

王秋实 ;

卢继奎 ;

马砚忠 ;

张嵩 .

中国专利 :CN115561255B ,2025-07-15

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