缺陷检测系统、PCB线路缺陷检测方法及可读存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510507142.5

申请日：

2025-04-22

公开(公告)号：

CN120028248A

公开(公告)日：

2025-05-23

发明(设计)人：

李威剑尹天骄郭晓觅杨浩童毅炜张逸颖樊天宇

申请人：

常州识元技术有限公司

申请人地址：

213000 江苏省常州市新北区信息大道6号-3幢

IPC主分类号：

G01N21/01

IPC分类号：

H04L67/12 H04L9/40 G01N21/88 G01N21/956 G06T7/00 G06V10/764 G06V10/82

代理机构：

常州市科佑新创专利代理有限公司 32672

代理人：

丁程俊

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-05-23	公开	公开
2025-06-10	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01N 21/01申请日:20250422

共 50 条

[1]

缺陷检测方法、缺陷检测系统及存储介质 [P].

葛亮 ;

王素利 .

中国专利 :CN119887676A ,2025-04-25

[2]

一种缺陷检测方法、缺陷检测系统及存储介质 [P].

杜文莉 ;

堵威 ;

曹志兴 ;

钟伟民 ;

钱锋 .

中国专利 :CN119313967A ,2025-01-14

[3]

缺陷检测方法、装置、系统及存储介质 [P].

张元 ;

柴正约 ;

陈斌 ;

刘永江 ;

李波 .

中国专利 :CN116500042B ,2024-01-26

[4]

缺陷检测方法、缺陷检测系统、终端设备及存储介质 [P].

朱合军 ;

钟建平 ;

林淼 ;

张恒瑞 ;

马先明 ;

陈其涛 ;

康映华 .

中国专利 :CN117726610A ,2024-03-19

[5]

缺陷检测系统及缺陷检测方法 [P].

杨东 ;

李阳 ;

李久航 ;

熊荣 ;

张海滨 ;

李红川 ;

王融慧 ;

潘彦霖 ;

杨歌 ;

何云 ;

马永生 .

中国专利 :CN119666984A ,2025-03-21

[6]

缺陷检测方法、缺陷检测设备及存储介质 [P].

严鹏 .

中国专利 :CN117392042A ,2024-01-12

[7]

缺陷检测方法、缺陷检测装置及存储介质 [P].

郑贤超 ;

葛亮 .

中国专利 :CN117830255A ,2024-04-05

[8]

缺陷检测方法、缺陷检测系统、装置、设备和存储介质 [P].

许德明 ;

黄书茂 ;

陈育培 ;

黄文芳 ;

孟鹏飞 .

中国专利 :CN117782995B ,2024-06-25

[9]

主板的缺陷检测方法、装置、缺陷检测系统、存储介质 [P].

徐盼 ;

王敏 ;

陈少裕 ;

林健良 ;

甘鹏 ;

王安琪 .

中国专利 :CN120823164A ,2025-10-21

[10]

缺陷检测方法、缺陷检测系统、装置、设备和存储介质 [P].

许德明 ;

黄书茂 ;

陈育培 ;

黄文芳 ;

孟鹏飞 .

中国专利 :CN117782995A ,2024-03-29

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