一种可靠性测试治具及测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202321071102.3

申请日：

2023-05-06

公开(公告)号：

CN220455353U

公开(公告)日：

2024-02-06

发明(设计)人：

李威季洪虎郭瑞亮焦洁

申请人：

苏州通富超威半导体有限公司

申请人地址：

215000 江苏省苏州市工业园区苏桐路88号

IPC主分类号：

G01R1/04

IPC分类号：

G01R31/28

代理机构：

北京志霖恒远知识产权代理有限公司 11435

代理人：

郭栋梁

法律状态：

授权

国省代码：

江苏省苏州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-02-06	授权	授权

共 50 条

[1]

可靠性测试治具 [P].

刘聖福 ;

刘福东 ;

吴丰硕 .

中国专利 :CN223140389U ,2025-07-22

[2]

门扇可靠性测试装置 [P].

袁祺 .

中国专利 :CN208780440U ,2019-04-23

[3]

一种灯具可靠性测试装置 [P].

邵磊 .

中国专利 :CN222882265U ,2025-05-16

[4]

一种可靠性测试装置 [P].

刘春林 ;

寇大贺 .

中国专利 :CN201255685Y ,2009-06-10

[5]

一种可靠性测试装置 [P].

王侃晟 .

中国专利 :CN205607929U ,2016-09-28

[6]

滤芯可靠性测试装置 [P].

王希 ;

玄珍雨 .

中国专利 :CN217385133U ,2022-09-06

[7]

可靠性测试装置 [P].

颜菁 ;

聂贻孝 ;

闵旺 .

中国专利 :CN308518697S ,2024-03-19

[8]

芯片可靠性测试装置及芯片可靠性测试方法 [P].

董攀 ;

王延斌 .

中国专利 :CN118671552A ,2024-09-20

[9]

一种配电用可靠性测试装置 [P].

王军 ;

熊利 .

中国专利 :CN215953762U ,2022-03-04

[10]

芯片可靠性测试装置及方法 [P].

马兰 ;

张军 ;

姚启龙 ;

李倩倩 .

中国专利 :CN119716460A ,2025-03-28

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