一种反射率光谱检测设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202210722080.6

申请日：

2022-06-24

公开(公告)号：

CN117330516A

公开(公告)日：

2024-01-02

发明(设计)人：

方晨姚辛励朱镇峰蔡宏毛慧浦世亮

申请人：

杭州海康威视数字技术股份有限公司

申请人地址：

310051 浙江省杭州市滨江区阡陌路555号

IPC主分类号：

G01N21/25

IPC分类号：

G01N21/47 G01N21/55

代理机构：

北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙) 11413

代理人：

丁芸;马敬

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

浙江省杭州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-01-16	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01N 21/25申请日:20220624
2025-02-25	授权	授权
2024-01-02	公开	公开

共 50 条

[1]

一种反射率光谱检测设备 [P].

方晨 ;

姚辛励 ;

朱镇峰 ;

蔡宏 ;

毛慧 ;

浦世亮 .

中国专利 :CN117330516B ,2025-02-25

[2]

全光谱反射率快速检测仪 [P].

蔡晓东 .

中国专利 :CN205049241U ,2016-02-24

[3]

一种珠宝反射率检测设备 [P].

鞠丹 ;

黄甜甜 ;

孙雪莹 ;

张紫云 ;

邓恺茵 .

中国专利 :CN222050008U ,2024-11-22

[4]

玻璃偏光反射率光谱检测方法和装置 [P].

蔡晓东 ;

黄国香 .

中国专利 :CN120847034A ,2025-10-28

[5]

一种反射率检测设备及其检测方法 [P].

林虹云 ;

王俐 ;

夏振宇 ;

孙志恒 ;

张小新 .

中国专利 :CN108645794B ,2018-10-12

[6]

光源光谱和多光谱反射率图像获取方法、装置及电子设备 [P].

刘敏 ;

龚冰冰 ;

师少光 ;

黄泽铗 ;

张丁军 ;

江隆业 .

中国专利 :CN113340816A ,2021-09-03

[7]

光源光谱和多光谱反射率图像获取方法、装置及电子设备 [P].

刘敏 ;

龚冰冰 ;

师少光 ;

黄泽铗 ;

张丁军 ;

江隆业 .

中国专利 :CN113340817A ,2021-09-03

[8]

一种晶硅电池刻蚀后反射率检测设备 [P].

张尧羲 ;

刘亲 ;

张朋飞 .

中国专利 :CN113921414B ,2025-02-11

[9]

一种晶硅电池刻蚀后反射率检测设备 [P].

张尧羲 ;

刘亲 ;

张朋飞 .

中国专利 :CN113921414A ,2022-01-11

[10]

一种后视镜反射率检测装置 [P].

王永刚 ;

张杨 ;

谢样炫 ;

施叶 .

中国专利 :CN118583444B ,2024-11-01

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