电路可靠性的处理方法、装置、存储介质及电子设备

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202311230696.2
申请日
2023-09-21
公开(公告)号
CN117388786A
公开(公告)日
2024-01-12
发明(设计)人
胡俊 申睿章 李汉林 杨冠宇 胡浩
申请人
惠州亿纬锂能股份有限公司
申请人地址
516006 广东省惠州市仲恺高新区惠风七路38号
IPC主分类号
G01R35/02
IPC分类号
代理机构
深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570
代理人
张小芬
法律状态
实质审查的生效
国省代码
江苏省 常州市
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共 50 条
[1]
可靠性预测方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
孙鸿飞 ;
张满春 .
中国专利 :CN119249078A ,2025-01-03
[2]
译码可靠性的分析方法及其装置、电子设备及存储介质 [P]. 
张圣岩 ;
蒋颖波 ;
王正方 ;
怀钰 .
中国专利 :CN115664433A ,2023-01-31
[3]
译码可靠性的分析方法及其装置、电子设备及存储介质 [P]. 
张圣岩 ;
蒋颖波 ;
王正方 ;
怀钰 .
中国专利 :CN115664433B ,2025-12-23
[4]
光网络可靠性评估方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
李新 ;
黄善国 ;
赵辰宇 ;
刘天号 ;
王冬柔 .
中国专利 :CN120730207A ,2025-09-30
[5]
处理器可靠性评估方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
邸倩 ;
冯鹏 ;
吴南健 .
中国专利 :CN110008076A ,2019-07-12
[6]
软件可靠性预测方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
张锐 ;
高帅超 ;
李凯 .
中国专利 :CN119537239A ,2025-02-28
[7]
可靠性分析方法及装置、存储介质、电子设备 [P]. 
巫荣海 ;
曾献清 ;
钟宇豪 ;
温志勋 .
中国专利 :CN113158502A ,2021-07-23
[8]
存储器可靠性测试方法及装置、存储介质、电子设备 [P]. 
张建 .
中国专利 :CN115691648A ,2023-02-03
[9]
闪存芯片的可靠性测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
姬帅帅 ;
叶继兴 .
中国专利 :CN114283868B ,2025-04-25
[10]
功率器件的可靠性评估方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
王长鑫 ;
高会壮 ;
谭士海 ;
冯慧 .
中国专利 :CN118465479A ,2024-08-09