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电路可靠性的处理方法、装置、存储介质及电子设备
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202311230696.2
申请日
:
2023-09-21
公开(公告)号
:
CN117388786A
公开(公告)日
:
2024-01-12
发明(设计)人
:
胡俊
申睿章
李汉林
杨冠宇
胡浩
申请人
:
惠州亿纬锂能股份有限公司
申请人地址
:
516006 广东省惠州市仲恺高新区惠风七路38号
IPC主分类号
:
G01R35/02
IPC分类号
:
代理机构
:
深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570
代理人
:
张小芬
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
江苏省 常州市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-01-30
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):G01R 35/02申请日:20230921
2024-01-12
公开
公开
共 50 条
[1]
可靠性预测方法、装置、电子设备及存储介质
[P].
孙鸿飞
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
安徽光智科技有限公司
安徽光智科技有限公司
孙鸿飞
;
张满春
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机构:
安徽光智科技有限公司
安徽光智科技有限公司
张满春
.
中国专利
:CN119249078A
,2025-01-03
[2]
译码可靠性的分析方法及其装置、电子设备及存储介质
[P].
张圣岩
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张圣岩
;
蒋颖波
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蒋颖波
;
王正方
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王正方
;
怀钰
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0
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0
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怀钰
.
中国专利
:CN115664433A
,2023-01-31
[3]
译码可靠性的分析方法及其装置、电子设备及存储介质
[P].
张圣岩
论文数:
0
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机构:
比科奇微电子(杭州)有限公司
比科奇微电子(杭州)有限公司
张圣岩
;
蒋颖波
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机构:
比科奇微电子(杭州)有限公司
比科奇微电子(杭州)有限公司
蒋颖波
;
王正方
论文数:
0
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0
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机构:
比科奇微电子(杭州)有限公司
比科奇微电子(杭州)有限公司
王正方
;
怀钰
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0
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0
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机构:
比科奇微电子(杭州)有限公司
比科奇微电子(杭州)有限公司
怀钰
.
中国专利
:CN115664433B
,2025-12-23
[4]
光网络可靠性评估方法、装置、电子设备及存储介质
[P].
论文数:
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机构:
李新
;
论文数:
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机构:
黄善国
;
赵辰宇
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机构:
北京邮电大学
北京邮电大学
赵辰宇
;
刘天号
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0
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机构:
北京邮电大学
北京邮电大学
刘天号
;
王冬柔
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机构:
北京邮电大学
北京邮电大学
王冬柔
.
中国专利
:CN120730207A
,2025-09-30
[5]
处理器可靠性评估方法、装置、电子设备及存储介质
[P].
邸倩
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邸倩
;
冯鹏
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冯鹏
;
吴南健
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吴南健
.
中国专利
:CN110008076A
,2019-07-12
[6]
软件可靠性预测方法、装置、电子设备及存储介质
[P].
张锐
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机构:
中国农业银行股份有限公司
中国农业银行股份有限公司
张锐
;
高帅超
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机构:
中国农业银行股份有限公司
中国农业银行股份有限公司
高帅超
;
李凯
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机构:
中国农业银行股份有限公司
中国农业银行股份有限公司
李凯
.
中国专利
:CN119537239A
,2025-02-28
[7]
可靠性分析方法及装置、存储介质、电子设备
[P].
巫荣海
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巫荣海
;
曾献清
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曾献清
;
钟宇豪
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钟宇豪
;
温志勋
论文数:
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0
温志勋
.
中国专利
:CN113158502A
,2021-07-23
[8]
存储器可靠性测试方法及装置、存储介质、电子设备
[P].
张建
论文数:
0
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0
张建
.
中国专利
:CN115691648A
,2023-02-03
[9]
闪存芯片的可靠性测试方法、装置、电子设备及存储介质
[P].
姬帅帅
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机构:
芯天下技术股份有限公司
芯天下技术股份有限公司
姬帅帅
;
叶继兴
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机构:
芯天下技术股份有限公司
芯天下技术股份有限公司
叶继兴
.
中国专利
:CN114283868B
,2025-04-25
[10]
功率器件的可靠性评估方法、装置、电子设备及存储介质
[P].
王长鑫
论文数:
0
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机构:
航天科工防御技术研究试验中心
航天科工防御技术研究试验中心
王长鑫
;
高会壮
论文数:
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机构:
航天科工防御技术研究试验中心
航天科工防御技术研究试验中心
高会壮
;
谭士海
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机构:
航天科工防御技术研究试验中心
航天科工防御技术研究试验中心
谭士海
;
冯慧
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机构:
航天科工防御技术研究试验中心
航天科工防御技术研究试验中心
冯慧
.
中国专利
:CN118465479A
,2024-08-09
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