存储器可靠性测试方法及装置、存储介质、电子设备

被引：0

申请号：

CN202211349912.0

申请日：

2022-10-31

公开(公告)号：

CN115691648A

公开(公告)日：

2023-02-03

发明(设计)人：

张建

申请人：

申请人地址：

230601 安徽省合肥市经济技术开发区空港工业园兴业大道388号

IPC主分类号：

G11C2956

IPC分类号：

代理机构：

北京律智知识产权代理有限公司 11438

代理人：

张旭庆

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2023-02-03	公开	公开

共 50 条

[1]

闪存器件可靠性测试方法、存储介质及电子设备 [P].

刘小红 .

中国专利 :CN109215725A ,2019-01-15

[2]

存储器测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

付旭东 ;

高国重 ;

郝守青 .

中国专利 :CN113160873A ,2021-07-23

[3]

闪存芯片的可靠性测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

姬帅帅 ;

叶继兴 .

中国专利 :CN114283868B ,2025-04-25

[4]

闪存芯片的可靠性测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

姬帅帅 ;

叶继兴 .

中国专利 :CN114283868A ,2022-04-05

[5]

芯片通信可靠性测试方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

李铁峰 ;

关锴 ;

代初晨 ;

尤国强 ;

张文昕 ;

齐良颉 ;

万文涛 ;

梁洁 .

中国专利 :CN117849573A ,2024-04-09

[6]

RAID卡的可靠性测试方法及装置、存储介质及电子设备 [P].

刘明 .

中国专利 :CN119025356A ,2024-11-26

[7]

芯片可靠性测试装置、测试方法、存储介质及电子设备 [P].

张芮 ;

徐炯 ;

何文龙 ;

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN118244085A ,2024-06-25

[8]

存储器测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

郭佳豪 ;

郝守青 ;

高国重 ;

冯佳杰 .

中国专利 :CN118072810A ,2024-05-24

[9]

CT球管可靠性预测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

黄进 ;

刘麒麟 ;

樊立天 ;

谢思源 ;

李豪杰 ;

陈柱 .

中国专利 :CN119226934A ,2024-12-31

[10]

Flash存储器测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

李佳城 ;

张计悦 ;

梁云雷 ;

苏衍宇 .

中国专利 :CN119479761A ,2025-02-18

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