闪存芯片的可靠性测试方法、装置、电子设备及存储介质

被引：0

申请号：

CN202111628666.8

申请日：

2021-12-28

公开(公告)号：

CN114283868A

公开(公告)日：

2022-04-05

发明(设计)人：

姬帅帅叶继兴

申请人：

申请人地址：

610096 四川省成都市自由贸易试验区成都高新区天府大道中段666号2栋8楼802号

IPC主分类号：

G11C1634

IPC分类号：

G11C2956

代理机构：

佛山市海融科创知识产权代理事务所(普通合伙) 44377

代理人：

陈志超

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-04-05	公开	公开
2022-04-22	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G11C 16/34 申请日:20211228

共 50 条

[1]

闪存芯片的可靠性测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

姬帅帅 ;

叶继兴 .

中国专利 :CN114283868B ,2025-04-25

[2]

闪存芯片编程方法、装置、系统、电子设备及存储介质 [P].

林朝明 ;

张新展 .

中国专利 :CN114267396B ,2025-08-05

[3]

闪存芯片编程方法、装置、系统、电子设备及存储介质 [P].

林朝明 ;

张新展 .

中国专利 :CN114267396A ,2022-04-01

[4]

闪存器件可靠性测试方法、存储介质及电子设备 [P].

刘小红 .

中国专利 :CN109215725A ,2019-01-15

[5]

芯片通信可靠性测试方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

李铁峰 ;

关锴 ;

代初晨 ;

尤国强 ;

张文昕 ;

齐良颉 ;

万文涛 ;

梁洁 .

中国专利 :CN117849573A ,2024-04-09

[6]

芯片可靠性测试装置、测试方法、存储介质及电子设备 [P].

张芮 ;

徐炯 ;

何文龙 ;

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN118244085A ,2024-06-25

[7]

存储器可靠性测试方法及装置、存储介质、电子设备 [P].

张建 .

中国专利 :CN115691648A ,2023-02-03

[8]

RAID卡的可靠性测试方法及装置、存储介质及电子设备 [P].

刘明 .

中国专利 :CN119025356A ,2024-11-26

[9]

闪存芯片的测试方法、装置、系统、电子设备及存储介质 [P].

李斌 ;

胡文婷 ;

李芳 ;

李宁 .

中国专利 :CN120236649A ,2025-07-01

[10]

闪存芯片的测试方法、装置、系统、电子设备及存储介质 [P].

蒋双泉 ;

黎永健 .

中国专利 :CN114333962A ,2022-04-12

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