RAID卡的可靠性测试方法及装置、存储介质及电子设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411170233.6

申请日：

2024-08-23

公开(公告)号：

CN119025356A

公开(公告)日：

2024-11-26

发明(设计)人：

刘明

申请人：

苏州元脑智能科技有限公司

申请人地址：

215000 江苏省苏州市吴中经济开发区郭巷街道官浦路1号9幢

IPC主分类号：

G06F11/22

IPC分类号：

代理机构：

北京康信知识产权代理有限责任公司 11240

代理人：

刘晓燕

法律状态：

公开

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-11-26	公开	公开
2024-12-13	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/22申请日:20240823

共 50 条

[1]

闪存器件可靠性测试方法、存储介质及电子设备 [P].

刘小红 .

中国专利 :CN109215725A ,2019-01-15

[2]

存储器可靠性测试方法及装置、存储介质、电子设备 [P].

张建 .

中国专利 :CN115691648A ,2023-02-03

[3]

闪存芯片的可靠性测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

姬帅帅 ;

叶继兴 .

中国专利 :CN114283868B ,2025-04-25

[4]

闪存芯片的可靠性测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

姬帅帅 ;

叶继兴 .

中国专利 :CN114283868A ,2022-04-05

[5]

芯片可靠性测试装置、测试方法、存储介质及电子设备 [P].

张芮 ;

徐炯 ;

何文龙 ;

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN118244085A ,2024-06-25

[6]

通信可靠性的测试方法、装置及电子设备和存储介质 [P].

张在理 ;

张珠玉 ;

张一罡 .

中国专利 :CN117729131A ,2024-03-19

[7]

可靠性预测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

孙鸿飞 ;

张满春 .

中国专利 :CN119249078A ,2025-01-03

[8]

芯片通信可靠性测试方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

李铁峰 ;

关锴 ;

代初晨 ;

尤国强 ;

张文昕 ;

齐良颉 ;

万文涛 ;

梁洁 .

中国专利 :CN117849573A ,2024-04-09

[9]

软件可靠性预测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

张锐 ;

高帅超 ;

李凯 .

中国专利 :CN119537239A ,2025-02-28

[10]

可靠性分析方法及装置、存储介质、电子设备 [P].

巫荣海 ;

曾献清 ;

钟宇豪 ;

温志勋 .

中国专利 :CN113158502A ,2021-07-23

← 1 2 3 4 5 →