Flash存储器测试方法、装置、电子设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411510752.2

申请日：

2024-10-28

公开(公告)号：

CN119479761A

公开(公告)日：

2025-02-18

发明(设计)人：

李佳城张计悦梁云雷苏衍宇

申请人：

哈尔滨思哲睿智能医疗设备股份有限公司

申请人地址：

150040 黑龙江省哈尔滨市经开区哈平路集中区大连北路8号

IPC主分类号：

G11C29/56

IPC分类号：

代理机构：

北京隆源天恒知识产权代理有限公司 11473

代理人：

吴航;徐苏明

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

辽宁省大连市

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-03-07	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G11C 29/56申请日:20241028
2025-02-18	公开	公开

共 50 条

[1]

存储器测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

付旭东 ;

高国重 ;

郝守青 .

中国专利 :CN113160873A ,2021-07-23

[2]

FLASH存储器的数据保护方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

邓玉良 ;

殷中云 ;

杨彬 ;

庄伟坚 ;

朱晓锐 .

中国专利 :CN113707206B ,2024-03-22

[3]

FLASH存储器的数据保护方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

邓玉良 ;

殷中云 ;

杨彬 ;

庄伟坚 ;

朱晓锐 .

中国专利 :CN113707206A ,2021-11-26

[4]

存储器测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

郭佳豪 ;

郝守青 ;

高国重 ;

冯佳杰 .

中国专利 :CN118072810A ,2024-05-24

[5]

存储器容量测试方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

郭威 ;

赵汝杰 ;

张宗阳 ;

李亮 .

中国专利 :CN117976023A ,2024-05-03

[6]

存储器测试方法、存储器测试装置、存储介质和电子设备 [P].

李千 ;

宋相荣 ;

禹琼 ;

李奇峰 ;

杨云 .

中国专利 :CN119207534A ,2024-12-27

[7]

存储器失效测试方法及装置、存储介质及电子设备 [P].

江汉 .

中国专利 :CN114743583A ,2022-07-12

[8]

Nand flash存储器的坏块处理方法、电子设备及存储介质 [P].

段程浩 .

中国专利 :CN114415961A ,2022-04-29

[9]

存储器测试方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

沈小康 .

中国专利 :CN117409841A ,2024-01-16

[10]

存储器分组方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN117762338A ,2024-03-26

← 1 2 3 4 5 →