缺陷检测方法、装置、设备和存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410270019.1

申请日：

2024-03-11

公开(公告)号：

CN118172323A

公开(公告)日：

2024-06-11

发明(设计)人：

张红治李冬宋志扬李楠胡瑞敏江游熊明福俞大海阮志锋

申请人：

格创东智（深圳）科技有限公司武汉大学深圳市TCL高新技术开发有限公司

申请人地址：

518000 广东省深圳市南山区西丽街道TCL国际E城G1栋3楼

IPC主分类号：

G06T7/00

IPC分类号：

G06V10/25 G06V10/44 G06V10/54 G06V10/56 G06V10/764 G06V10/766 G06V10/82

代理机构：

深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570

代理人：

杨婉秋

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

广东省深圳市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-06-28	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06T 7/00申请日:20240311
2024-06-11	公开	公开

共 50 条

[1]

缺陷检测方法、缺陷检测系统、装置、设备和存储介质 [P].

许德明 ;

黄书茂 ;

陈育培 ;

黄文芳 ;

孟鹏飞 .

中国专利 :CN117782995B ,2024-06-25

[2]

缺陷检测方法、缺陷检测系统、装置、设备和存储介质 [P].

许德明 ;

黄书茂 ;

陈育培 ;

黄文芳 ;

孟鹏飞 .

中国专利 :CN117782995A ,2024-03-29

[3]

缺陷检测方法、装置、设备和存储介质 [P].

胡艺川 ;

王姝 ;

赵传民 ;

鲜英美 ;

陈兴旺 ;

魏思乐 ;

巩军 .

中国专利 :CN120259258A ,2025-07-04

[4]

缺陷检测方法、装置、设备和存储介质 [P].

戴嵘 .

中国专利 :CN109671075A ,2019-04-23

[5]

缺陷检测方法、装置、设备和存储介质 [P].

李晨阳 ;

陈想 ;

罗斌 ;

陈列 ;

汪彪 .

中国专利 :CN114266737A ,2022-04-01

[6]

缺陷检测方法、装置、设备和存储介质 [P].

陈鲁 ;

陈明山 ;

代富贵 ;

张鹏斌 ;

胡诗铭 .

中国专利 :CN120182076A ,2025-06-20

[7]

缺陷检测方法、装置、设备和存储介质 [P].

邢连萍 .

中国专利 :CN117372321A ,2024-01-09

[8]

缺陷检测方法、装置、设备和存储介质 [P].

邢连萍 .

中国专利 :CN117911308A ,2024-04-19

[9]

缺陷检测方法、装置、设备和可读存储介质 [P].

黄云龙 ;

翁璐莹 ;

刘志文 ;

刘腾鸥 .

中国专利 :CN119023669A ,2024-11-26

[10]

产品缺陷检测方法、装置、设备和存储介质 [P].

胡坤 ;

孟繁强 ;

云洋 .

中国专利 :CN118864435A ,2024-10-29

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