芯片自动测试设备和芯片内部小电阻的自动测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410185568.9

申请日：

2024-02-19

公开(公告)号：

CN117849591A

公开(公告)日：

2024-04-09

发明(设计)人：

刘畅张权

申请人：

芯洲科技（北京）股份有限公司

申请人地址：

100088 北京市海淀区学院路51号11层1101室

IPC主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R27/08

代理机构：

北京慧加伦知识产权代理有限公司 16035

代理人：

张凯

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

北京市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-04-26	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20240219
2024-04-09	公开	公开

共 50 条

[1]

芯片自动测试设备 [P].

何润 .

中国专利 :CN215248106U ,2021-12-21

[2]

芯片的Trim测试方法和自动测试设备 [P].

张灵灵 .

中国专利 :CN111142006A ,2020-05-12

[3]

半导体芯片自动测试设备 [P].

邢清瑞 .

中国专利 :CN222145153U ,2024-12-10

[4]

芯片测试座自动清洁装置及芯片自动测试设备 [P].

徐永刚 ;

彭瑞 ;

童炜 ;

孙成思 ;

何瀚 ;

王灿 .

中国专利 :CN117463653A ,2024-01-30

[5]

光模块芯片自动测试设备 [P].

刘大梓 ;

段蜜 ;

谢丰 ;

韩硕 .

中国专利 :CN119198024A ,2024-12-27

[6]

光模块芯片自动测试设备 [P].

刘大梓 ;

段蜜 ;

谢丰 ;

韩硕 .

中国专利 :CN119198024B ,2025-02-21

[7]

芯片自动测试方法及系统 [P].

钟汝军 ;

刘元才 ;

陈乐欢 .

中国专利 :CN106771982A ,2017-05-31

[8]

光模块芯片自动测试方法 [P].

刘大梓 ;

段蜜 ;

谢丰 ;

韩硕 .

中国专利 :CN119198023A ,2024-12-27

[9]

光模块芯片自动测试方法 [P].

刘大梓 ;

段蜜 ;

谢丰 ;

韩硕 .

中国专利 :CN119198023B ,2025-02-21

[10]

自动测试系统和自动测试方法 [P].

徐耀德 ;

谢良彬 ;

李宛平 ;

李庆华 .

中国专利 :CN103984611A ,2014-08-13

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