半导体芯片自动测试设备

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202420426733.0

申请日：

2024-03-05

公开(公告)号：

CN222145153U

公开(公告)日：

2024-12-10

发明(设计)人：

邢清瑞

申请人：

联和存储科技（江苏）有限公司

申请人地址：

214000 江苏省无锡市无锡经济开发区新园路富力中心C5-401-03

IPC主分类号：

G01R31/26

IPC分类号：

代理机构：

深圳市华勤知识产权代理事务所(普通合伙) 44426

代理人：

隆毅

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-12-10	授权	授权

共 50 条

[1]

半导体芯片测试设备 [P].

邢清瑞 .

中国专利 :CN221977039U ,2024-11-08

[2]

半导体芯片测试设备 [P].

邢清瑞 .

中国专利 :CN221977038U ,2024-11-08

[3]

半导体自动测试设备 [P].

张文 .

中国专利 :CN308404982S ,2024-01-02

[4]

半导体自动测试设备 [P].

张文 .

中国专利 :CN308918775S ,2024-11-01

[5]

半导体自动测试设备 [P].

翁水才 ;

陈奇 ;

程海宾 ;

邱成 ;

王鼎伟 ;

严邦民 ;

何冰 .

中国专利 :CN119943693A ,2025-05-06

[6]

一种封装半导体芯片的全自动测试设备 [P].

兰金国 ;

王臣 ;

李亮 ;

赵雅梅 .

中国专利 :CN117233583B ,2024-01-19

[7]

半导体芯片自动测试控制装置 [P].

王俊文 .

中国专利 :CN205587310U ,2016-09-21

[8]

芯片自动测试设备 [P].

何润 .

中国专利 :CN215248106U ,2021-12-21

[9]

半导体基片自动测试设备 [P].

李正贤 .

中国专利 :CN102288138A ,2011-12-21

[10]

半导体自动测试设备的待料平台及半导体自动测试设备 [P].

卢春阳 ;

庄建强 ;

李玉权 ;

王伟 .

中国专利 :CN221841133U ,2024-10-15

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