半导体自动测试设备

被引：0

专利类型：

外观设计

申请号：

CN202330399479.0

申请日：

2023-06-28

公开(公告)号：

CN308404982S

公开(公告)日：

2024-01-02

发明(设计)人：

张文

申请人：

北京华峰测控技术股份有限公司

申请人地址：

100094 北京市海淀区丰豪东路9号院5号楼

IPC主分类号：

10-05

IPC分类号：

代理机构：

北京华夏正合知识产权代理事务所(普通合伙) 11017

代理人：

韩登营;马英

法律状态：

授权

国省代码：

北京市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-01-02	授权	授权

共 50 条

[1]

半导体自动测试设备 [P].

张文 .

中国专利 :CN308918775S ,2024-11-01

[2]

半导体自动测试设备 [P].

翁水才 ;

陈奇 ;

程海宾 ;

邱成 ;

王鼎伟 ;

严邦民 ;

何冰 .

中国专利 :CN119943693A ,2025-05-06

[3]

半导体自动测试设备的待料平台及半导体自动测试设备 [P].

卢春阳 ;

庄建强 ;

李玉权 ;

王伟 .

中国专利 :CN221841133U ,2024-10-15

[4]

半导体基片自动测试设备 [P].

李正贤 .

中国专利 :CN102288138A ,2011-12-21

[5]

半导体自动测试设备机柜（STS 8200B) [P].

谢朋 ;

王晶 ;

刘惠鹏 .

中国专利 :CN303561682S ,2016-01-20

[6]

半导体芯片自动测试设备 [P].

邢清瑞 .

中国专利 :CN222145153U ,2024-12-10

[7]

一种半导体自动测试设备及测试方法 [P].

李北印 ;

陈泳宇 ;

沈红星 .

中国专利 :CN117538716A ,2024-02-09

[8]

半导体集成块自动测试设备 [P].

张世勇 ;

陈浦晟 ;

杜培阳 ;

林绍芳 ;

陈帽龙 ;

常勇 .

中国专利 :CN102401865A ,2012-04-04

[9]

半导体集成块自动测试设备 [P].

张世勇 ;

陈浦晟 ;

杜培阳 ;

林绍芳 ;

陈帽龙 ;

常勇 .

中国专利 :CN202404163U ,2012-08-29

[10]

半导体自动测试设备测试拓展卡助拔连杆装置 [P].

包智杰 ;

赵坤岭 .

中国专利 :CN110824324B ,2020-02-21

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