数据测试方法、装置、电子设备及计算机存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202311482090.8

申请日：

2023-11-08

公开(公告)号：

CN117421237A

公开(公告)日：

2024-01-19

发明(设计)人：

郭明辉李志钢李晨

申请人：

北京淘友天下技术有限公司

申请人地址：

100083 北京市海淀区学院路甲5号2幢平房B-3202室

IPC主分类号：

G06F11/36

IPC分类号：

代理机构：

北京市立方律师事务所 11330

代理人：

王静丽

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

北京市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-02-06	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/36申请日:20231108
2024-01-19	公开	公开

共 50 条

[1]

数据测试方法、装置、设备及计算机存储介质 [P].

尹小芳 ;

徐山凌 ;

江旻 ;

杨杨 ;

张晶 .

中国专利 :CN113868283B ,2025-01-21

[2]

数据测试方法、装置、设备及计算机存储介质 [P].

尹小芳 ;

徐山凌 ;

江旻 ;

杨杨 ;

张晶 .

中国专利 :CN113868283A ,2021-12-31

[3]

数据测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

向乾 ;

尤薇 .

中国专利 :CN113961473A ,2022-01-21

[4]

数据测试方法、电子设备、存储介质及计算机程序产品 [P].

张帅杰 .

中国专利 :CN120104506A ,2025-06-06

[5]

测试方法、装置、电子设备及计算机存储介质 [P].

李辉 ;

魏广源 ;

高蕊 ;

冷炜 .

中国专利 :CN112765029A ,2021-05-07

[6]

测试方法、装置、电子设备及计算机存储介质 [P].

李辉 ;

魏广源 ;

高蕊 ;

冷炜 .

中国专利 :CN112765029B ,2025-08-08

[7]

测试方法、装置、电子设备及计算机存储介质 [P].

李辉 ;

魏广源 ;

高蕊 ;

冷炜 .

中国专利 :CN112765030B ,2025-07-22

[8]

测试方法、装置、电子设备及计算机存储介质 [P].

李辉 ;

魏广源 ;

高蕊 ;

冷炜 .

中国专利 :CN112765030A ,2021-05-07

[9]

数据处理方法及装置、电子设备、计算机存储介质 [P].

刘武 ;

徐佳 ;

吴俊杰 ;

李安达 .

中国专利 :CN111400406A ,2020-07-10

[10]

对比测试方法、装置、电子设备及计算机存储介质 [P].

黄赞群 ;

胡奕涵 ;

喻昱 ;

聂清阳 ;

蒋灿 .

中国专利 :CN118193393A ,2024-06-14

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