一种薄膜电阻测量装置

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202311488454.3
申请日
2023-11-09
公开(公告)号
CN117347723A
公开(公告)日
2024-01-05
发明(设计)人
王达 王东阳 宋聪 周高泽 孙悦萍 赵宁致 秦平力
申请人
武汉工程大学
申请人地址
430000 湖北省武汉市东湖新技术开发区光谷一路206号
IPC主分类号
G01R27/02
IPC分类号
代理机构
重庆徽赫天连知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 50303
代理人
张军
法律状态
实质审查的生效
国省代码
湖北省 武汉市
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共 50 条
[1]
一种测量粉末材料电阻的测量装置 [P]. 
陈森昌 .
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[2]
一种薄膜方块电阻的测量装置 [P]. 
来华杭 ;
郭峰 .
中国专利 :CN215066955U ,2021-12-07
[3]
一种电阻测量装置 [P]. 
张梦杰 ;
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齐吉帅 ;
刘舒畅 ;
邓步浩 ;
赵英杰 ;
缑钧溥 ;
袁泽星 ;
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王艺超 ;
张国锋 ;
王宗燚 ;
李付磊 .
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[4]
一种电阻测量电路及环境参数测量装置 [P]. 
沈礼胜 ;
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[5]
一种电阻精密测量装置 [P]. 
刘转娥 ;
成鹏展 ;
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[6]
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沈礼胜 ;
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[7]
一种电阻测量电路、方法及环境参数测量装置 [P]. 
沈礼胜 ;
王勇 .
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[8]
一种薄膜电阻测量结构及测量方法 [P]. 
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刘森 .
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[9]
一种接触电阻测量装置 [P]. 
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[10]
一种正压式触头接触电阻测量装置 [P]. 
郑攀峰 ;
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中国专利 :CN207502614U ,2018-06-15