芯片调试方法、装置及电子设备

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202410023203.6
申请日
2024-01-08
公开(公告)号
CN117520082B
公开(公告)日
2024-04-02
发明(设计)人
蔡先伟 张新天 王江伟
申请人
凌思微电子(杭州)有限公司
申请人地址
311201 浙江省杭州市萧山区经济技术开发区明星路371号1幢824-7
IPC主分类号
G06F11/26
IPC分类号
代理机构
上海维卓专利代理有限公司 31409
代理人
谢绪宁
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
芯片调试方法、装置及电子设备 [P]. 
蔡先伟 ;
张新天 ;
王江伟 .
中国专利 :CN117520082A ,2024-02-06
[2]
芯片测试方法、装置及电子设备 [P]. 
张君宇 ;
刘璟 ;
吕杭炳 ;
张锋 ;
刘明 .
中国专利 :CN110441667A ,2019-11-12
[3]
一种芯片测试方法、装置及电子设备 [P]. 
徐廷宁 ;
王培吉 ;
娄骏彬 ;
鹿业波 ;
何亦昕 ;
章天雨 .
中国专利 :CN119395510A ,2025-02-07
[4]
一种芯片测试方法、装置及电子设备 [P]. 
徐廷宁 ;
王培吉 ;
娄骏彬 ;
鹿业波 ;
何亦昕 ;
章天雨 .
中国专利 :CN119395510B ,2025-07-04
[5]
用于芯片测试的方法及装置、电子设备 [P]. 
李杨 .
中国专利 :CN118964205A ,2024-11-15
[6]
一种芯片测试方法、装置及电子设备 [P]. 
文波 ;
谷威 .
中国专利 :CN118501653A ,2024-08-16
[7]
调试方法、装置、电子设备及车辆 [P]. 
邓杰 ;
李爽 .
中国专利 :CN120915610A ,2025-11-07
[8]
多时钟域芯片调试方法、装置、电子设备、介质及程序 [P]. 
李国承 ;
王振 ;
王俊杰 ;
张旭升 .
中国专利 :CN119847838A ,2025-04-18
[9]
芯片的调试方法、装置、电子设备和存储介质 [P]. 
张震 .
中国专利 :CN117408197A ,2024-01-16
[10]
跟踪调试电路、芯片及电子设备 [P]. 
程旭敏 ;
王世好 .
中国专利 :CN118169548A ,2024-06-11