高性能计算应用的调试方法、调试系统、装置和调试设备

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202211475984.X
申请日
2022-11-23
公开(公告)号
CN117812158A
公开(公告)日
2024-04-02
发明(设计)人
张汝涛 杜宏伟 侯凯 彭国华
申请人
华为技术有限公司
申请人地址
518129 广东省深圳市龙岗区坂田华为总部办公楼
IPC主分类号
H04L67/63
IPC分类号
H04L67/10 H04L41/22 H04L41/12
代理机构
深圳市深佳知识产权代理事务所(普通合伙) 44285
代理人
邱青云
法律状态
公开
国省代码
广东省 深圳市
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共 50 条
[1]
调试设备和调试系统 [P]. 
黄子洋 .
中国专利 :CN214586864U ,2021-11-02
[2]
芯片的调试系统、调试方法和调试装置 [P]. 
肖勇 ;
王少亮 ;
赵明洋 .
中国专利 :CN104239175A ,2014-12-24
[3]
调试方法和调试系统 [P]. 
王泰运 ;
杨兴华 .
中国专利 :CN101267350A ,2008-09-17
[4]
调试系统和调试方法 [P]. 
刘文峰 .
中国专利 :CN105550118B ,2016-05-04
[5]
用于智能合约的调试方法、调试设备和调试系统 [P]. 
周维 .
中国专利 :CN114327776A ,2022-04-12
[6]
用于智能合约的调试方法、调试设备和调试系统 [P]. 
周维 .
中国专利 :CN114327776B ,2024-10-29
[7]
调试装置、调试方法和调试系统 [P]. 
万中魁 ;
巩方源 ;
王志懋 ;
李亮 .
中国专利 :CN114265802A ,2022-04-01
[8]
调试装置、调试方法和调试系统 [P]. 
万中魁 ;
巩方源 ;
王志懋 ;
李亮 .
中国专利 :CN114265802B ,2025-01-21
[9]
显示设备画质调试方法、装置、调试设备及调试系统 [P]. 
陶冬 ;
张建礼 ;
单会丰 .
中国专利 :CN115701627A ,2023-02-10
[10]
调试连接方法、计算机设备和调试系统 [P]. 
吴建建 .
中国专利 :CN118945660A ,2024-11-12