一种测试系统、测试方法、测试设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202311308248.X

申请日：

2023-10-10

公开(公告)号：

CN117331769A

公开(公告)日：

2024-01-02

发明(设计)人：

周卫

申请人：

展讯通信（深圳）有限公司

申请人地址：

518052 广东省深圳市南山区粤海街道高新区社区科技南路18号深圳湾科技生态园12栋B2801

IPC主分类号：

G06F11/22

IPC分类号：

G06F11/34

代理机构：

北京汇思诚业知识产权代理有限公司 11444

代理人：

朱琳

法律状态：

公开

国省代码：

广东省深圳市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-01-02	公开	公开
2024-01-19	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/22申请日:20231010

共 50 条

[1]

测试系统、测试方法、测试设备及存储介质 [P].

陈增亮 ;

李安平 ;

李晓白 ;

刘乐 ;

赵海洋 ;

梅利文 ;

王伟 .

中国专利 :CN118625098A ,2024-09-10

[2]

存储设备测试方法、存储设备测试系统及存储介质 [P].

张辉 .

中国专利 :CN109446013B ,2019-03-08

[3]

遥测设备的测试方法、测试设备、测试系统及存储介质 [P].

席珺琳 ;

古雅倩 ;

刘金荷 ;

方鑫 ;

吴佳杰 .

中国专利 :CN118659827A ,2024-09-17

[4]

测试系统、测试方法、控制设备和存储介质 [P].

刘均 ;

温鑫 .

中国专利 :CN110850269A ,2020-02-28

[5]

存储设备测试方法及测试系统、存储介质 [P].

黄学楼 ;

蔡文浩 ;

卢小刚 ;

黄成权 ;

林思源 ;

吴锦龙 ;

张霖 ;

陈东林 .

中国专利 :CN120220786A ,2025-06-27

[6]

芯片测试方法、测试设备、测试系统和存储介质 [P].

董莎莎 .

中国专利 :CN119881593A ,2025-04-25

[7]

灵敏度测试方法、测试设备、测试系统及存储介质 [P].

祝大勇 .

中国专利 :CN114125875A ,2022-03-01

[8]

ATE测试设备、测试方法、测试系统及存储介质 [P].

刘吉平 ;

瞿驰 ;

王翔 .

中国专利 :CN114779052A ,2022-07-22

[9]

飞行器测试系统、测试方法、测试设备及存储介质 [P].

吕生亮 ;

李云虹 ;

于士博 ;

梁晓华 ;

黄子凌 ;

黄磊 .

中国专利 :CN118992117A ,2024-11-22

[10]

测试方法、测试设备、计算机存储介质及测试系统 [P].

袁露 ;

冯炜杰 ;

余锦涛 .

中国专利 :CN117928726A ,2024-04-26

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